[实用新型]一种支持IEC61850时间性能测试的测试仪有效
申请号: | 201220456531.8 | 申请日: | 2012-09-07 |
公开(公告)号: | CN202818338U | 公开(公告)日: | 2013-03-20 |
发明(设计)人: | 陶晓农;赵旭阳;刘晶;顾宗良 | 申请(专利权)人: | 上海远景数字信息技术有限公司 |
主分类号: | H04L12/26 | 分类号: | H04L12/26;H04J3/06 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 余明伟 |
地址: | 200030 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型提供一种支持IEC61850时间性能测试的测试仪,该测试仪包括:接收网络数据信息的网络接口;捕获网络数据信息中的IEC61850数据信息的IEC61850数据采集模块;IEC61850数据采集模块与网络接口相连;记录IEC61850数据信息到达所述测试仪的时刻的时间戳;时间戳与IEC61850数据采集模块相连;根据时间戳记录的时刻计算获得IEC61850数据传输的时间延迟及时间间隔的时间性能处理模块;时间性能处理模块与时间戳相连。本实用新型可以在接收的网络数据信息中捕获IEC61850数据信息,并对IEC61850特定数据信息进行检测、分析、存储,实现了对IEC61850特定报文的时间性能的测试分析,方便了对智能变电站运行状况的实时监控以及维护。 | ||
搜索关键词: | 一种 支持 iec61850 时间 性能 测试 测试仪 | ||
【主权项】:
一种支持IEC61850时间性能测试的测试仪,其特征在于,所述支持IEC61850时间性能测试的测试仪包括:接收网络数据信息的网络接口;捕获网络数据信息中的IEC61850数据信息的IEC61850数据采集模块;IEC61850数据采集模块与网络接口相连;记录IEC61850数据信息到达所述测试仪的时刻的时间戳;时间戳与IEC61850数据采集模块相连;根据时间戳记录的时刻计算获得IEC61850数据传输的时间间隔和时间延迟的时间性能处理模块;时间性能处理模块与时间戳相连。
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