[发明专利]基于信号依赖关系的波形自动对比分析方法、设备和介质

说明书

本发明涉及一种基于信号依赖关系的波形自动对比分析方法、设备和介质，实现步骤S1、分别解析第一芯片设计和第二芯片设计，生成第一拓扑结构和第二拓扑结构；步骤S2、基于第一芯片设计和第二芯片设计进行仿真，生成第一波形文件和第二波形文件；步骤S3、对比第一波形文件和第二波形文件，获取第一信号差集和第二信号差集；步骤S4、基于第一信号差集从第一拓扑结构中提取第一拓扑差集，基于第二信号差集从第二拓扑结构提取第二拓扑差集；步骤S5、获取映射逻辑信息；步骤S6、基于映射逻辑信息合并第一拓扑差集和第二拓扑差集生成差异信号拓扑集合。本发明降低了波形分析的成本，提高了波形分析的效率。

技术领域

本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种基于信号依赖关系的波形自动对比分析方法、设备和介质。

背景技术

在芯片设计仿真工具的运行结果中，信号的差异往往成千上万，但是这些信号之间的差异往往存在着依赖关系。而现有的EDA软件通常仅提供信号波形比较的功能，无法提供自动的波形分析，也无法直观地向用户展示对比结果，现有技术中，芯片设计工程师或验证工程师通常需要花费人工分析这些波形信号的差异来找出导致结果不如预期的根本原因，导致波形分析的成本高、效率低，从而增加了导致芯片设计和芯片验证的成本，降低了芯片设计和芯片验证的效率。

发明内容

本发明目的在于，提供一种基于信号依赖关系的波形自动对比分析方法、设备和介质，降低了波形分析的成本，提高了波形分析的效率，进而降低了片设计和芯片验证的成本，提高了芯片设计和芯片验证的效率。

根据本发明一方面，提供了一种基于信号依赖关系的波形自动对比分析方法，包括以下步骤：

步骤S1、分别解析第一芯片设计和第二芯片设计，生成所述第一芯片设计对应的第一拓扑结构和所述第二芯片设计对应的第二拓扑结构，拓扑结构包括信号节点和信号节点之间的拓扑依赖关系。

步骤S2、分别基于所述第一芯片设计和第二芯片设计进行仿真，生成所述第一芯片设计对应的第一波形文件和所述第二芯片设计对应的第二波形文件。

步骤S3、对比所述第一波形文件和所述第二波形文件，获取所述第一波形文件相对于所述第二波形文件的第一信号差集，以及所述第二波形文件相对于所述第一波形文件的第二信号差集。

步骤S4、基于所述第一信号差集从所述第一拓扑结构中提取第一拓扑差集，基于所述第二信号差集从所述第二拓扑结构提取第二拓扑差集。

步骤S5、获取映射逻辑信息，所述映射逻辑信息包括第二芯片设计相对于第一芯片设计的删除信号标识和信号更名信息。

步骤S6、基于所述映射逻辑信息合并所述第一拓扑差集和第二拓扑差集生成差异信号拓扑集合。

根据本发明另一方面，提供了一种电子设备，包括：

至少一个处理器；

以及，与所述至少一个处理器通信连接的存储器；

其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被设置为用于执行前述内容所述的方法。

根据本发明又一方面，提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行前述内容所述的方法。

本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。借由上述技术方案，本发明提供的一种基于信号依赖关系的波形自动对比分析方法、设备和介质可达到相当的技术进步性及实用性，并具有产业上的广泛利用价值，其至少具有下列优点：

本发明能够基于信号依赖关系，根据信号波形自动化地分析信号的差异，并导出逻辑关系图，可以为芯片设计或验证过程节省大量的人工时间，并准确、清晰地为用户展示分析结果，提高了波形分析的效率，降低了波形分析的成本，进而提高了芯片设计或芯片验证的效率。