[发明专利]基于信号依赖关系的波形自动对比分析方法、设备和介质

权利要求书

1.一种基于信号依赖关系的波形自动对比分析方法，其特征在于，

包括以下步骤：

步骤S1、分别解析第一芯片设计和第二芯片设计，生成所述第一芯片设计对应的第一拓扑结构和所述第二芯片设计对应的第二拓扑结构，拓扑结构包括信号节点和信号节点之间的拓扑依赖关系；

步骤S2、分别基于所述第一芯片设计和第二芯片设计进行仿真，生成所述第一芯片设计对应的第一波形文件和所述第二芯片设计对应的第二波形文件；

步骤S3、对比所述第一波形文件和所述第二波形文件，获取所述第一波形文件相对于所述第二波形文件的第一信号差集，以及所述第二波形文件相对于所述第一波形文件的第二信号差集；

所述第一波形文件包括第一芯片设计中所有第一信号节点标识以及每一第一信号节点标识对应的第一波形信息，所述第二波形文件包括第二芯片设计中所有第二信号节点标识以及每一第二信号节点标识对应的第二波形信息，所述步骤S3包括：

步骤S31、判断每一第一信号节点标识是否存在第二波形文件中，若不存在，则将该第一信号节点标识存储至第一信号差集中，否则，执行步骤S32；

步骤S32、则判断该第一信号节点标识在第一波形文件中对应的第一波形信息和在第二波形文件中对应的第二波形信息是否相同，若不相同，则将该第一信号节点标识存储至第一信号差集中，生成所述第一信号差集；

步骤S33、判断每一第二信号节点标识是否存在第一波形文件中，若不存在，则将该第二信号节点标识存储至第二信号差集中，否则，执行步骤S34；

步骤S34、则判断该第二信号节点标识在第二波形文件中对应的第二波形信息和在第一波形文件中对应的第一波形信息是否相同，若不相同，则将该第二信号节点标识存储至第二信号差集中，生成所述第二信号差集；

步骤S4、基于所述第一信号差集从所述第一拓扑结构中提取第一拓扑差集，基于所述第二信号差集从所述第二拓扑结构提取第二拓扑差集；

所述步骤S4包括：

步骤S41、从所述第一拓扑结构中提取第一信号差集中的第一信号节点标识对应的信号节点，以及第一信号差集中的第一信号节点之间的拓扑依赖关系，生成所述第一拓扑差集；

步骤S42、从所述第二拓扑结构中提取第二信号差集中的第二信号节点标识对应的信号节点，以及第二信号差集中的第二信号节点之间的拓扑依赖关系，生成所述第二拓扑差集；

步骤S5、获取映射逻辑信息，所述映射逻辑信息包括第二芯片设计相对于第一芯片设计的删除信号标识和信号更名信息；

步骤S6、基于所述映射逻辑信息合并所述第一拓扑差集和第二拓扑差集生成差异信号拓扑集合。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述步骤S6之后还包括：

步骤S7、基于所述差异信号拓扑集合生成每一差异信号拓扑的逻辑关系图进行显示。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

所述步骤S7还包括：

步骤S70、将每一差异信号拓扑的逻辑关系图中的根节点进行突出显示。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述步骤S6包括：

步骤S61、根据所述删除信号标识将所述第一拓扑差集中对应的信号节点删除；

步骤S62、根据所述信号更名信息，确定所述第一拓扑差集和第二拓扑差集中相同的信号节点，将所述第一拓扑差集和第二拓扑差集中相同的拓扑结构进行合并，生成所述差异信号拓扑集合。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述步骤S31中，若第一信号节点标识不存在第二波形文件中，则为该第一信号节点标识设置第一提示标识；

所述步骤S33中，若第二信号节点标识不存在第一波形文件中，则为该第二信号节点标识设置第二提示标识。