[发明专利]一种三绕组变压器的温升试验方法及装置在审
申请号: | 202211492324.2 | 申请日: | 2022-11-25 |
公开(公告)号: | CN115980474A | 公开(公告)日: | 2023-04-18 |
发明(设计)人: | 陈建;黄宝新;郑赞;要金鹏;王建;马会彪;陈增凯;宋旭国;金斗 | 申请(专利权)人: | 保定天威集团特变电气有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人: | 张罗涛 |
地址: | 070000 河*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 绕组 变压器 试验 方法 装置 | ||
本发明提供一种三绕组变压器的温升试验方法及装置。三绕组变压器包括高压绕组、中压绕组和低压绕组,温升试验方法包括:获取三绕组变压器各绕组的额定参数,额定参数包括额定容量、额定电压和额定电流;基于各绕组的额定参数,建立三绕组变压器的等效电路;基于各绕组的额定参数和等效电路,计算各绕组的阻抗;在中压绕组和低压绕组中阻抗较小的绕组接入负载试品,阻抗较大的绕组短路,进行温升试验,负载试品为可计量损耗的负载。本发明能够减少三绕组变压器的温升试验的试验时间,提高三绕组变压器的温升试验速度。
技术领域
本发明涉及变压器技术领域,尤其涉及一种三绕组变压器的温升试验方法及装置。
背景技术
三绕组变压器的温升试验,常采用短路法进行。短路法温升试验即将三绕组变压器的中压绕组和低压绕组短路,高压绕组施加额定电压。
在该温升试验过程中,由于各绕组的阻抗并不相同,短路后中压侧和低压侧均达不到额定状态。例如,中压侧的实际损耗仅为额定损耗的80%。如此需要增加温升试验时间,以使得中压绕组的温度达到设定温度。但是,增加温升试验时间较长,例如几个小时,导致三绕组变压器温升试验时间较长,效率较低。
发明内容
本发明提供了一种三绕组变压器的温升试验方法及装置,能够减少三绕组变压器的温升试验的试验时间,提高三绕组变压器的温升试验速度。
第一方面,本发明提供了一种三绕组变压器的温升试验方法,三绕组变压器包括高压绕组、中压绕组和低压绕组,温升试验方法包括:获取三绕组变压器各绕组的额定参数,额定参数包括额定容量、额定电压和额定电流;基于各绕组的额定参数,建立三绕组变压器的等效电路;基于各绕组的额定参数和等效电路,计算各绕组的阻抗;在中压绕组和低压绕组中阻抗较小的绕组接入负载试品,阻抗较大的绕组短路,进行温升试验,负载试品为可计量损耗的负载。
本发明提供一种三绕组变压器的温升试验方法,通过建立等效电路,并基于等效电路计算各绕组阻抗,在中压绕组和低压绕组中阻抗较小的绕组接入负载试品,阻抗较大的绕组短路,进行温升试验,其中,负载试品为可计量损耗的负载。在阻抗较小的绕组上接入负载试品,增加三绕组变压器在温升过程中的短路损耗,提高了三绕组变压器的温升试验过程中总损耗,使得三绕组变压器更快温升,减少了三绕组变压器的温升试验的试验时间,提高三绕组变压器的温升试验速度。
在一种可能的实现方式中,在中压绕组和低压绕组中阻抗较小的绕组接入负载试品,阻抗较大的绕组短路,进行温升试验之前,还包括:基于高压绕组和第一绕组的额定参数,计算第一绕组和高压绕组的等值阻抗;其中,第一绕组为中压绕组和低压绕组中阻抗较小的绕组;基于第一绕组和另一绕组的额定参数,计算第一绕组在温升试验时达到额定损耗所对应的等效阻抗;另一绕组为中压绕组和低压绕组中除第一绕组之外的绕组;基于等效阻抗和第一绕组与高压绕组的等值阻抗,确定负载试品的阻抗。
在一种可能的实现方式中,基于高压绕组和第一绕组的额定参数,计算第一绕组和高压绕组的等值阻抗,包括:基于如下公式,确定第一绕组与高压绕组的等值阻抗;
其中,KHM为第一绕组与高压绕组的等值阻抗,UMN为三绕组变压器第一绕组的额定电压,IMN为三绕组变压器第一绕组的额定电流,UKHM为三绕组变压器高压绕组和第一绕组的短路阻抗标幺值之和,SMN为三绕组变压器第一绕组的额定容量,SHN为三绕组变压器高压绕组的额定容量。
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