[发明专利]含表面织构的轴类件的过盈配合拆卸损伤评价方法及装置在审
申请号: | 202211477966.5 | 申请日: | 2022-11-23 |
公开(公告)号: | CN115774024A | 公开(公告)日: | 2023-03-10 |
发明(设计)人: | 黄海鸿;殷超超;周丹;陶梅生;任勇;刘志峰 | 申请(专利权)人: | 合肥工业大学 |
主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95;G01B11/00;G01B11/24 |
代理公司: | 合肥市泽信专利代理事务所(普通合伙) 34144 | 代理人: | 江楠竹 |
地址: | 230009 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 表面 轴类件 配合 拆卸 损伤 评价 方法 装置 | ||
1.含表面织构的轴类件的过盈配合拆卸损伤评价方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一,将被评价的所述轴类件的过盈配合表面分为n个子区域,将每个子区域划分为原始区域和织构区域;
其中,织构区域为子区域中织构所占区域;原始区域为子区域中除去织构区域后的其他区域;
步骤二,对被评价的所述轴类件的第n个子区域的损伤位置进行检测,得到第n个子区域中损伤位置的表面形貌实测参数,进而计算n个子区域的表面形貌实测参数的平均值;
其中,表面形貌实测参数包括Str-n、Sv-n、Vmc-n、Vmc-n、Vvv-n;Str-n表示第n个子区域中原始区域的Str;Sv-n表示第n个子区域中原始区域的Sv;Vmc-n表示第n个子区域中原始区域的Vmc;Vmp-n表示第n个子区域中织构区域的Vmp;Vvv-n表示第n个子区域中织构区域的Vvv;Str、Sv、Vmc、Vmp、Vvv为表面形貌特征参数,Str表示表面纹理纵横比,Sv表示表面的最大深度,Vmc表示接触微凸体的核心材料体积,Vmp表示峰值材料体积,Vvv表示峰谷的体积;
步骤三,获取参考件一的表面形貌参考参数组一;获取参考件二的表面形貌参考参数组二;其中,参考件一为无损伤的所述轴类件;参考件二为标准损伤的所述轴类件;
步骤四,依据步骤三,计算所述表面形貌特征参数对拆卸损伤的影响因子;
步骤五,基于步骤二、步骤三、步骤四,计算出被评价的所述轴类件整体原始区域的损伤程度PS、整体织构区域的损伤程度Pp;
步骤六,依据被评价的所述轴类件的应用场景,划分损伤程度区间;综合考虑被评价的所述轴类件整体原始区域的损伤程度PS、整体织构区域的损伤程度Pp,进行损伤评价。
2.根据权利要求1所述的含表面织构的轴类件的过盈配合拆卸损伤评价方法,其特征在于,所述轴类件为圆轴或方轴。
3.根据权利要求1所述的含表面织构的轴类件的过盈配合拆卸损伤评价方法,其特征在于,步骤二中,n个子区域的表面形貌实测参数的平均值包括:
其中,表示n个Str-n的均值;表示n个Sv-n的均值;表示n个Vmc-n的均值;表示n个Vmp-n的均值;表示n个Vvv-n的均值。
4.根据权利要求3所述的含表面织构的轴类件的过盈配合拆卸损伤评价方法,其特征在于,步骤三中,所述表面形貌参考参数组一包括Str-u、Sv-u、Vmc-u、Vmp-u、Vvv-u,分别为所述轴类件无损伤时的Str、Sv、Vmc、Vmp、Vvv;u表示无损伤,为所述轴类件未出现损伤;
所述表面形貌参考参数组二包括Str-d、Sv-d、Vmc-d、Vmp-d、Vvv-d,分别为所述轴类件标准损伤时的Str、Sv、Vmc、Vmp、Vvv;d表示标准损伤,为所述轴类件出现不可修复损伤。
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