[发明专利]一种存储处理方法、装置、电子设备及计算机存储介质

说明书

本发明提供一种存储处理方法、装置、电子设备及计算机存储介质，所述方法包括：接收用户提交的新建配置指令；基于需求数据确定所需存储块的数量，以及所需存储块需要校验位的数量，进而确定第一网状结构是否满足要求，第一网状结构是对存储器进行处理生成的；若满足，基于所需存储块的数量，第一网状结构的可用校验位、可用校验位所对应初始存储块以及待存储数据，创建第一网状结构与所述所需存储块的关联关系；在本发明通过在网状结构的存储块中存储数据，以在接收到配置指令时，对配置指令进行处理，以更改当前网状结构或是重新构建新的网状结构。通过上述方式辅助用户管理配置，以降低运维压力，进而减少硬件故障产生的影响。

技术领域

本发明涉及分布式存储技术领域，尤其涉及一种存储处理方法、装置、电子设备及计算机存储介质。

背景技术

随着大量的中小型企业对IT产品的需求数量增大，且所需的存储空间需要空间小、配置种类多、变化频繁等特点。

企业所要求的存储空间由于项目情况常通过人工的方式需要不断的进行扩容或是释放，且每次更改存储配置都需要停机进行更改，同时更改配置还需要将原有磁盘全部格式化，无法在保证原始配置的基础上进行配置的更改操作，导致数据的安全性会受到影响，从而增加运维压力

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种存储处理方法、装置、电子设备及计算机存储介质，以解决现有技术存在的运维压力增加的问题。

为实现上述目的，本发明实施例提供如下技术方案：

本发明实施例第一方面示出了一种存储处理方法，所述方法包括：

接收用户提交的新建配置指令，所述新建配置指令中携带有需求数据和待存储数据；

基于所述需求数据确定所需存储块的数量，以及所述所需存储块需要校验位的数量；

基于所述所需存储块需要校验位的数量和第一网状结构的可用校验位的数量，确定所述第一网状结构是否满足要求，所述第一网状结构是对存储器进行处理生成的；

若满足，基于所述所需存储块的数量，第一网状结构的可用校验位、所述可用校验位所对应初始存储块以及所述待存储数据，创建所述第一网状结构与所述所需存储块的关联关系；

若不满足，基于所述需求数据、待存储数据、所需存储块的数量、以及所需存储块需要校验位的数量构建第二网状结构。

可选的，所述对存储器进行处理生成第一网状结构的过程包括：

对存储器的空间进行拆分，得到初始存储块；

基于所述初始存储块的校验位、数据位和位置码构建第一网状结构。

可选的，基于所述所需存储块的数量、第一网状结构的可用校验位、所述可用校验位所对应存储块以及待存储数据，创建所述第一网状结构与所述所需存储块的关联关系，包括：

将所述待存储数据存储至所述数量的所需存储块中；

基于所述待存储数据生成对应校验信息；

基于所述校验信息、所述第一网状结构的可用校验位、以及所述可用校验位所对应存储块构建所述第一网状结构与所述所需存储块的关联关系。

可选的，所述基于所述需求数据、待存储数据、所需存储块的数量、以及所需存储块需要校验位的数量构建第二网状结构，包括：

将所述待存储数据存储至所述数量的所需存储块；

基于所述待存储数据生成对应校验信息，并确定所述校验信息的数量；

根据所需存储块需要校验位的数量确定存放校验信息的第一存储块；

基于所述校验信息和所述第一存储块构建所述第二网状结构。