[发明专利]包括奇偶校验管理模块的存储控制器、包括存储控制器的存储设备和存储设备的操作方法在审

专利信息
申请号: 202211409076.0 申请日: 2022-11-10
公开(公告)号: CN116302666A 公开(公告)日: 2023-06-23
发明(设计)人: 高相圭;刘荣旻;金种必 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10;G11C29/42
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 张霞;周祺
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 包括 奇偶校验 管理 模块 存储 控制器 设备 操作方法
【权利要求书】:

1.一种操作与非易失性存储器件通信的存储控制器的方法,所述方法包括:

确定包括多个扇区的目标页的编程/擦除P/E计数是否大于或等于P/E阈值;

基于确定所述目标页的所述P/E计数大于或等于所述P/E阈值,获取所述目标页;

从获取的目标页的所述多个扇区中确定具有高可靠性的第一扇区和具有低可靠性的第二扇区;以及

通过将所述第一扇区的第一奇偶校验区中的余量区域移动到所述第二扇区的第二奇偶校验区来扩展所述第二扇区的所述第二奇偶校验区。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,扩展所述第二奇偶校验区还包括:

基于确定了具有高可靠性的所述第一扇区和具有低可靠性的所述第二扇区,确定所述P/E计数是否超过参考值;以及

基于确定所述P/E计数超过所述参考值,将所述第一奇偶校验区中的所述余量区域移动到所述第二奇偶校验区。

3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述参考值是所述P/E阈值与可变参数之和,以及

其中,基于所述可变参数确定所述余量区域的大小。

4.根据权利要求1所述的方法,其中,确定具有高可靠性的所述第一扇区和具有低可靠性的所述第二扇区包括:

通过对所述多个扇区中的每一个扇区执行一次性编程,获得分别与所述多个扇区相对应的多个断开单元计数;

基于所述多个断开单元计数中不超过计数阈值的第一断开单元计数,确定与所述第一断开单元计数相对应的所述第一扇区具有高可靠性;以及

基于所述多个断开单元计数中超过所述计数阈值的第二断开单元计数,确定与所述第二断开单元计数相对应的所述第二扇区具有低可靠性。

5.根据权利要求1所述的方法,其中,确定具有高可靠性的所述第一扇区和具有低可靠性的所述第二扇区包括:

通过对所述多个扇区中的每一个扇区执行一次性编程,获得分别与所述多个扇区相对应的多个断开单元计数;

确定所述多个断开单元计数中的至少一个断开单元计数是否超过第一丢弃阈值;以及

基于确定所述多个断开单元计数中的至少一个断开单元计数超过所述第一丢弃阈值,将获取的目标页设置为只读模式。

6.根据权利要求1所述的方法,其中,确定所述目标页的P/E计数是否大于或等于所述P/E阈值包括:

对所述目标页执行增量步进脉冲编程ISPP;以及

通过执行所述ISPP生成分别与所述多个扇区相对应的多个循环计数,以及

其中,确定具有高可靠性的所述第一扇区和具有低可靠性的所述第二扇区包括:

基于所述多个循环计数中超过循环阈值的第一循环计数,确定与所述第一循环计数相对应的所述第一扇区具有高可靠性;以及

基于所述多个循环计数中不超过所述循环阈值的第二循环计数,确定与所述第二循环计数相对应的所述第二扇区具有低可靠性。

7.根据权利要求1所述的方法,其中,确定包括所述多个扇区的所述目标页的P/E计数是否大于或等于所述P/E阈值包括:

对所述多个扇区中的每一个扇区执行增量步进脉冲编程ISPP;以及

通过执行所述ISPP生成分别与所述多个扇区相对应的多个循环计数,以及

其中,从获取的目标页的所述多个扇区中确定具有高可靠性的所述第一扇区和具有低可靠性的所述第二扇区包括:

确定所述多个循环计数中的至少一个循环计数是否超过第二丢弃阈值;以及

基于确定所述多个循环计数中的至少一个循环计数不超过所述第二丢弃阈值,将获取的目标页设置为只读模式。

8.根据权利要求1所述的方法,还包括:将所述第二奇偶校验区被扩展的所述目标页存储在所述非易失性存储器件中。

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