[发明专利]一种磨刀校准系统及校准方法在审

专利信息
申请号: 202211406302.X 申请日: 2022-11-10
公开(公告)号: CN115837637A 公开(公告)日: 2023-03-24
发明(设计)人: 袁冠杰;章陈 申请(专利权)人: 科达制造股份有限公司
主分类号: B24B47/22 分类号: B24B47/22;B24B49/00
代理公司: 广州圣理华知识产权代理有限公司 44302 代理人: 张凯
地址: 528313 广东省佛山*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 磨刀 校准 系统 方法
【权利要求书】:

1.磨刀校准系统,其特征在于:包括磨头(1)、检测开关(2)、校准器(3)、控制器(4)和输送装置(6),所述磨头(1)设置在所述输送装置(6)的上方,所述检测开关(2)设置在所述输送装置(6)一端的上方,用于检测所述校准器(3)的位置,所述控制器(4)分别与所述校准器(3)、所述检测开关(2)和所述输送装置(6)电连接,所述磨头(1)包括刀头(13),所述刀头(13)可垂直于所述输送装置(6)进行升降,所述校准器(3)可分离地放置于所述输送装置(6)上,所述校准器(3)通过所述磨头(1)的移动来校准所述刀头(13)的位置。

2.根据权利要求1所述的磨刀校准系统,其特征在于:

所述磨头(1)包括升降装置(11)和定厚装置(12),所述刀头(13)设置在所述定厚装置(12)上,且所述刀头(13)朝向所述输送装置(6),所述升降装置(11)设置在所述定厚装置(12)的侧壁上,用于推动所述刀头(13)垂直于所述输送装置(6)进行升降。

3.根据权利要求2所述的磨刀校准系统,其特征在于:

所述校准器(3)包括压力传感器(31)和校准板(32),所述压力传感器(31)设置在所述校准板(32)上,且所述压力传感器(31)设置在所述校准板(32)的中心,用于检测所述刀头(13)与所述校准器(3)的接触情况。

4.根据权利要求2所述的磨刀校准系统,其特征在于:

所述校准器(3)包括多个压力传感器(31)和校准板(32),多个所述压力传感器(31)均布在所述校准板(32)上,用于检测所述刀头(13)与所述校准器(3)的接触情况。

5.根据权利要求3或者4所述的磨刀校准系统,其特征在于:

所述校准板(32)由硬质合金材料制成,所述校准板(32)的两端面平整。

6.根据权利要求5所述的磨刀校准系统,其特征在于:

所述校准板(32)的面积大于所述刀头(13)在所述校准板(32)上的投影面积。

7.根据权利要求1所述的磨刀校准系统,其特征在于:

还包括计数器(41),所述计数器(41)与所述控制器(4)相连,用于计算次数及对所述输送装置(6)的移动时间进行记录,并反馈给所述控制器(4)。

8.根据权利要求5所述的磨刀校准系统,其特征在于:

所述输送装置(6)包括输送带(61)、驱动器(62)和机架(63),所述输送带(61)设置在所述机架(63)上,所述驱动器(62)与所述控制器(4)相连,用于驱动所述输送带(61)移动。

9.根据权利要求1所述的磨刀校准系统,其特征在于:

所述检测开关(2)为行程开关、位移传感器和接近传感器中的任意一种。

10.磨刀校准方法,其特征在于:由权利要求1-9中任一项所述的磨刀校准系统实现,包括以下步骤:

S1.上板定位:将所述校准器(3)朝上放置在所述输送装置(6)上,所述输送装置(6)运动带动所述校准器(3)向前移动,所述校准器(3)触发所述检测开关(2),所述控制器(4)将此时的位置设为检测的初始位置;

S2.位置校准:所述输送装置(6)向前移动,使所述校准器(3)处在所述刀头(13)的下方后停止,所述刀头(13)开始下降,直至所述刀头(13)触发所述校准器(3)为止,所述控制器(4)接收到所述校准器(3)的校准信号,确定所述刀头(13)在所述输送装置(6)上的位置;

S3.间歇移动:待所述刀头(13)位置检测完成后,所述刀头(13)向上移动回位,所述校准器(3)在所述输送装置(6)上继续向前移动,到达下一个所述刀头(13)的下方,下一个所述刀头(13)下降触发所述校准器(3),所述控制器(4)接收到所述校准器(3)发送来的信号,确定下一个所述刀头(13)的位置;

S4.连续校准:重复S2-S3步骤,对多个所述刀头(13)依次进行校准。

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