[发明专利]一种微钻芯厚测量装置

权利要求书

1.一种微钻芯厚测量装置，用于对微钻进行测量，其中，所述微钻的长度方向沿竖直方向布置，其特征在于，所述微钻芯厚测量装置包括：固定设置的刻度标尺、连接所述微钻的高度调节机构以及邻接所述高度调节机构并固定设置的芯厚测量表，所述刻度标尺用于表征所述微钻的高度值，所述高度调节机构相对所述刻度标尺设置，且用于调节所述微钻的高度，所述芯厚测量表测量所述微钻对应位置的芯厚值。

2.如权利要求1所述的微钻芯厚测量装置，其特征在于：所述高度调节机构包括调节座以及调节螺栓，所述调节座开设有调节孔，所述调节孔的孔壁开设有内螺纹，所述调节螺栓的一端螺锁于所述调节孔，所述调节螺栓的另一端连接所述微钻的下端。

3.如权利要求2所述的微钻芯厚测量装置，其特征在于：所述高度调节机构还包括第一刻度指针，所述第一刻度指针连接所述调节调节螺栓的侧表面，并用于从所述刻度标尺上指示出所述微钻的高度。

4.如权利要求1所述的微钻芯厚测量装置，其特征在于：所述高度调节机构包括升降台以及驱动器，所述升降台连接所述微钻的下端，所述驱动器用于驱动所述升降台沿竖直方向移动。

5.如权利要求4所述的微钻芯厚测量装置，其特征在于：所述高度调节机构还包括丝杆和连接所述驱动器的导向柱，所述丝杆连接所述驱动器的输出轴，所述升降台开设有与所述丝杆螺纹适配的升降孔，所述升降台还开设有导向孔，所述导向柱的上端滑动收容于所述导向孔内。

6.如权利要求5所述的微钻芯厚测量装置，其特征在于：所述高度调节机构还包括第二刻度指针，所述第二刻度指针连接所述升降台。

7.如权利要求1-6任意一项所述的微钻芯厚测量装置，其特征在于：所述微钻设置有两个，所述刻度标尺间隔设置有两个，两所述刻度标尺分别用于表征两个所述微钻的高度，且两所述微钻的长度不相等。

8.如权利要求7所述的微钻芯厚测量装置，其特征在于：两所述刻度标尺沿竖直方向错位设置。

9.如权利要求1-6任意一项所述的微钻芯厚测量装置，其特征在于：所述微钻芯厚测量装置还包括支撑台，所述刻度标尺连接所述支撑台。

10.如权利要求9所述的微钻芯厚测量装置，其特征在于：所述支撑台包括底板以及立板，所述立板可升降的连接所述支撑台，所述刻度标尺连接所述立板朝向所述微钻的板面。