[发明专利]一种准确测量方波信号上升时间的实验方案在审
| 申请号： | 202211400882.1 | 申请日： | 2022-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN115712023A | 公开（公告）日： | 2023-02-24 |
| 发明（设计）人： | 高锦春;宋凯旋;周雨奇;罗俊宇;王文佳;王超逸;张田梦 | 申请（专利权）人： | 北京邮电大学 |
| 主分类号： | G01R29/027 | 分类号： | G01R29/027 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100876 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 准确 测量 方波 信号 上升时间 实验 方案 | ||
【权利要求书】：
1.一种研究准确测量方波信号上升时间的实验方案，其特征在于：
设计以同轴连接器为外接端口的测试样本。
搭建以信号源与示波器为主体的数字信号测试系统。根据测试样本外接同轴端口的类型，选择合适的测试线缆；
选择与测试线缆同类型的低损直通校准件；
在完成测试样本信号上升时间的实验的基础上，设置辅助对照组，即完成对低损直通校准件的测试；
两组测试实验完成后，都将测试数据导入计算机，通过数学运算，消除测试样本中同轴连接器对测试数据的影响。
2.根据权力要求1所述的一种研究准确测量方波信号上升时间的实验方案，其特征在于，可以消除不同规格、不同连接方式的样本外接同轴连接器对上升时间的影响。
3.根据权力要求1所述的一种研究准确测量方波信号上升时间的实验方案，其特征在于，设置测试低损直通校准件的辅助组。
4.根据权力要求1所述的一种研究准确测量方波信号上升时间的实验方案，其特征在于，通过以下数学运算，消除同轴外界端口的影响：
其中tinput是输入信号的上升时间，tTEST,SPL,output是测试样本的上升时间，tTEST,THRU,output是低损直通校准件的上升时间，tTEST,output是消除外接测试端口与测试线缆后测试样本的信号上升时间。
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