[发明专利]定位方法、定位电路和电子设备

权利要求书

1.一种定位方法，其特征在于，应用于电子设备，所述电子设备包括第一主体和第二主体，所述第一主体和所述第二主体转动连接，所述第一主体上设置有第一天线阵列，所述第二主体上设置有第二天线阵列，所述方法包括：

基于所述电子设备的状态，从所述第一天线阵列和所述第二天线阵列中确定目标天线阵列，并确定与所述目标天线阵列对应的目标校准参数，其中，电子设备的不同状态对应不同目标天线阵列，所述电子设备的状态包括折叠状态或展开状态；

获取所述目标天线阵列接收的定位信号，所述定位信号来自目标对象；

基于所述定位信号，确定相位差；

基于所述目标校准参数和所述相位差，确定所述目标对象的目标位置信息。

2.根据权利要求1所述的定位方法，其特征在于，

在所述基于所述电子设备的状态，从所述第一天线阵列和所述第二天线阵列中确定目标天线阵列，并确定与所述目标天线阵列对应的目标校准参数之前，所述方法包括：

在所述电子设备为所述展开状态下，获取所述第一天线阵列对应的第一校准参数和所述第二天线阵列对应的第二校准参数；

在所述电子设备为所述折叠状态下，获取所述第一天线阵列对应的第三校准参数和所述第二天线阵列对应的第四校准参数；

所述基于所述电子设备的状态，从所述第一天线阵列和所述第二天线阵列中确定目标天线阵列，并确定与所述目标天线阵列对应的目标校准参数，包括：

在所述电子设备为所述展开状态下，将所述第一天线阵列和所述第二天线阵列中的至少一个确定为所述目标天线阵列，并将所述目标天线阵列在所述展开状态下对应的校准参数确定为所述目标校准参数；

在所述电子设备为所述折叠状态下，将所述第一天线阵列和所述第二天线阵列中，靠近所述目标对象的天线阵列确定为所述目标天线阵列，并将所述目标天线阵列在所述折叠状态下对应的校准参数确定为所述目标校准参数。

3.根据权利要求2所述的定位方法，其特征在于，所述将所述第一天线阵列和所述第二天线阵列中，靠近所述目标对象的天线阵列确定为所述目标天线阵列，包括：

在所述电子设备为折叠状态下，获取所述第一天线阵列和所述第二天线阵列分别对应的接收信号强度；

基于所述信号接收强度，确定所述目标对象相对所述电子设备的方位信息；

基于所述方位信息，将靠近所述目标对象的天线阵列确定为所述目标天线阵列。

4.根据权利要求1-3任一项所述的定位方法，其特征在于，在所述基于所述目标校准参数和所述相位差，确定所述目标对象的目标位置信息之后，所述方法包括：

基于所述目标位置信息，确定第一时刻下，所述目标天线阵列与所述目标对象之间的第一水平角度；

在所述第一水平角度不超过第一目标阈值的情况下，保持所述目标天线阵列不变；

在所述第一水平角度超过第一目标阈值的情况下，将所述目标天线阵列切换至另一个天线阵列。

5.根据权利要求4所述的定位方法，其特征在于，所述在所述第一水平角度不超过第一目标阈值的情况下，保持所述目标天线阵列不变，包括：

在所述第一水平角度不超过所述第一目标阈值且超过第二目标阈值的情况下，获取所述第一水平角度与第二时刻对应的第二水平角度之间的变化值，所述第二时刻在所述第一时刻之前；

在所述变化值不大于0的情况下，保持所述目标天线阵列不变。