[发明专利]校准方法、装置、电子设备和可读存储介质

说明书

本申请公开了一种校准方法、装置、电子设备和可读存储介质，属于超宽带天线技术领域。校准方法由电子设备执行，校准方法包括：在电子设备处于折叠状态的情况下，通过角度传感器获取折叠角度，并通过天线组件测量折叠角度对应的信号到达相位测量数据；其中，信号到达相位测量数据为第一天线和第二天线以第三天线为测量目标测量得到的；根据折叠角度和信号到达相位测量数据，确定目标校准参数；通过目标校准参数对天线组件的原始信号到达相位测量数据进行校准。

技术领域

本申请属于超宽带天线技术领域，具体涉及一种校准方法、装置、电子设备和可读存储介质。

背景技术

在相关技术中，具有超宽带(Ultra Wide Band，UWB)天线的手机等电子设备，能够通过UWB技术实现信号到达相位差(Phase Difference Of Arrival，PDOA)测量角度，从而具有良好的空间感知能力。

由于不同手机的天线一致性问题，每台手机通过UWB进行角度测量时，PDOA测量角度与实际角度存在一定的偏差，因此需要对手机的PDOA测量进行参数校准，参数校准的做法是在手机生产线中使用天线阵列进行校准。

天线阵列的校准过程需要依赖大型、昂贵的工业设备，因此仅能在手机出厂前进行一次校准，当手机在使用过程中出现形变、设备老化等问题时，出厂预设的校准参数可能失效，导致PDOA角度测量不准。

发明内容

本申请实施例的目的是提供一种校准方法、装置、电子设备和可读存储介质，能够解决电子设备的出厂校准参数失效，PDOA角度测量不准的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种校准方法，由电子设备执行，电子设备包括天线组件、角度传感器以及相互铰接的第一折叠本体和第二折叠本体，天线组件包括第一天线、第二天线和第三天线，第一天线和第二天线设于第一折叠本体，第三天线设于第二折叠本体，角度传感器用于获取第一折叠本体和第二折叠本体之间的折叠角度；

校准方法包括：

在电子设备处于折叠状态的情况下，通过角度传感器获取折叠角度，并通过天线组件测量折叠角度对应的信号到达相位测量数据；其中，信号到达相位测量数据为第一天线和第二天线以第三天线为测量目标测量得到的；

根据折叠角度和信号到达相位测量数据，确定目标校准参数；

通过目标校准参数对天线组件的原始信号到达相位测量数据进行校准。

第二方面，本申请实施例提供了一种校准装置，应用于电子设备，电子设备包括天线组件、角度传感器以及相互铰接的第一折叠本体、第二折叠本体，天线组件包括第一天线、第二天线和第三天线，第一天线和第二天线设于第一折叠本体，第三天线设于第二折叠本体，角度传感器用于获取第一折叠本体和第二折叠本体之间的折叠角度；

校准装置包括：

角度测量模块，用于在电子设备处于折叠状态的情况下，通过角度传感器获取折叠角度，并通过天线组件测量折叠角度对应的信号到达相位测量数据；其中，信号到达相位测量数据为第一天线和第二天线以第三天线为测量目标测量得到的；

确定模块，用于根据折叠角度和信号到达相位测量数据，确定目标校准参数；

校准模块，用于通过目标校准参数对天线组件的原始信号到达相位测量数据进行校准。

第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，包括处理器和存储器，存储器存储可在处理器上运行的程序或指令，程序或指令被处理器执行时实现如第一方面的方法的步骤。

第四方面，本申请实施例提供了一种可读存储介质，该可读存储介质上存储程序或指令，该程序或指令被处理器执行时实现如第一方面的方法的步骤。