[发明专利]校准方法、装置、电子设备和可读存储介质

权利要求书

1.一种校准方法，由电子设备执行，其特征在于，所述电子设备包括天线组件、角度传感器以及相互铰接的第一折叠本体和第二折叠本体，所述天线组件包括第一天线、第二天线和第三天线，所述第一天线和所述第二天线设于所述第一折叠本体，所述第三天线设于所述第二折叠本体，所述角度传感器用于获取所述第一折叠本体和所述第二折叠本体之间的折叠角度；

所述校准方法包括：

在所述电子设备处于折叠状态的情况下，通过所述角度传感器获取折叠角度，并通过所述天线组件测量所述折叠角度对应的信号到达相位测量数据；其中，所述信号到达相位测量数据为所述第一天线和所述第二天线以所述第三天线为测量目标测量得到的；

根据所述折叠角度和所述信号到达相位测量数据，确定目标校准参数；

通过所述目标校准参数对所述天线组件的原始信号到达相位测量数据进行校准。

2.根据权利要求1所述的校准方法，其特征在于，在所述根据所述折叠角度和所述信号到达相位测量数据，确定目标校准参数之前，所述校准方法还包括：

获取所述电子设备的熄屏次数；

在所述熄屏次数大于或等于预设的次数阈值的情况下，根据所述折叠角度和所述天线组件的位置信息，确定实际角度，所述实际角度与所述第三天线相对所述第一天线和所述第二天线的空间位置相关；

根据所述信号到达相位差测量数据和预设校准参数，确定对应的测量角度；

在所述测量角度与所述实际角度的差的绝对值，大于或等于预设的角度阈值的情况下，执行所述根据所述折叠角度和所述信号到达相位测量数据，确定目标校准参数的步骤。

3.根据权利要求2所述的校准方法，其特征在于，所述折叠角度包括第一折叠角度和第二折叠角度，所述信号到达相位测量角度包括第一信号到达相位测量角度和第二信号到达相位测量角度，其中，所述第一折叠角度和所述第二折叠角度不同，所述第一信号到达相位测量角度与所述第一折叠角度相对应，所述第二信号到达相位测量角度与所述第二折叠角度相对应；

所述根据所述折叠角度和所述信号到达相位测量角度，确定目标校准参数，包括：

根据所述第一折叠角度、所述第二折叠角度和所述天线组件的位置信息，确定对应的第一实际角度和第二实际角度；

根据所述第一实际角度、所述第二实际角度和所述天线组件的超带宽频率，确定第一矩阵；

根据所述第一信号到达相位差测量数据、所述第二信号到达相位差测量数据和所述预设校准参数，确定对应的第一测量角度和第二测量角度；

根据所述第一测量角度和所述第二测量角度，确定第二矩阵；

根据所述第一矩阵和所述第二矩阵，确定所述目标校准参数。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的校准方法，其特征在于，所述目标校准参数包括所述第一天线与所述第二天线之间的天线间距，和角度偏移值。

5.一种校准装置，应用于电子设备，其特征在于，所述电子设备包括天线组件、角度传感器以及相互铰接的第一折叠本体、第二折叠本体，所述天线组件包括第一天线、第二天线和第三天线，所述第一天线和所述第二天线设于所述第一折叠本体，所述第三天线设于所述第二折叠本体，所述角度传感器用于获取所述第一折叠本体和所述第二折叠本体之间的折叠角度；

所述校准装置包括：

角度测量模块，用于在所述电子设备处于折叠状态的情况下，通过所述角度传感器获取折叠角度，并通过所述天线组件测量所述折叠角度对应的信号到达相位测量数据；其中，所述信号到达相位测量数据为所述第一天线和所述第二天线以所述第三天线为测量目标测量得到的；

确定模块，用于根据所述折叠角度和所述信号到达相位测量数据，确定目标校准参数；

校准模块，用于通过所述目标校准参数对所述天线组件的原始信号到达相位测量数据进行校准。