[发明专利]一种扁管表面缺陷检测方法

权利要求书

1.一种扁管表面缺陷检测方法，其特征在于：包括以下步骤：

步骤S1，获取扁管表面图像进行预处理得到待提取图像；

步骤S2，将所述待提取图像进行等均分段得到若干组扁管的分段图像；

步骤S3，统计每组所述分段图像得到垂直投影直方图，对所述垂直投影直方图测绘得到第一曲线，根据所述第一曲线进行若干次B样条曲线拟合得到第二曲线；

步骤S4，对每组所述第二曲线进行曲率计算得到曲率曲线，在所述曲率曲线中查找定位局部峰值；

步骤S5，将每组所述分段图像进行整合，将每组所述曲率曲线根据对应的分段图像进行排序整合，根据每组所述曲率曲线中的查找的局部峰值依次对应在分段图像中定位为丝槽点，将定位后的每相邻两个丝槽点进行连线得到丝槽线。

2.根据权利要求1所述一种扁管表面缺陷检测方法，其特征在于：所述步骤S3中还包括有步骤S31，在所述第一曲线中的子曲线点集的起点附近和终点附近选取得到B样条曲线拟合的两个端点，根据两个端点的坐标划分矩形区域，根据所述矩形区域内通过随机抽样法计算得到控制点，根据所述控制点和两个端点用过B样条曲线拟合公式计算得到第二曲线。

3.根据权利要求2所述一种扁管表面缺陷检测方法，其特征在于：所述第一曲线进行三次B样条曲线拟合得到第二曲线。

4.根据权利要求3所述一种扁管表面缺陷检测方法，其特征在于：所述步骤S31中还包括步骤S310，对所述第一曲线中的子曲线点集进行区域划分算式计算得到两个端点和两个控制点的范围区间，区域划分算式配置为：

其中，T₀为表征控制点在分布空间内的相应分散度阈值，为两个端点的范围区间，为两个控制点的范围区间，均为子数据点集，j、J均为坐标。

5.根据权利要求4所述一种扁管表面缺陷检测方法，其特征在于：所述步骤S31中还包括有步骤S311，在两个控制点的范围区间内选取任意两个控制点，将两个控制点通过代表三次B样条曲线和数据点集之间的相似度算式计算得到目标控制点，相似度算式配置为：

其中，F(x,ζ)是函数，x是坐标，ζ是随机变量，是候选的子轮廓，该轮廓是由随机生成控制点的组合向量ω所定义。

6.根据权利要求3所述一种扁管表面缺陷检测方法，其特征在于：所述步骤S4中还包括有步骤S41，将所述第二曲线通过曲率算式计算得到第二曲线上任意点上的曲率值，根据曲率值寻找中心点曲率，再根据第一曲线中对应点的曲率构建曲率曲线。

7.根据权利要求6所述一种扁管表面缺陷检测方法，其特征在于：所述曲率算式配置为：

其中，K(t)为第二曲线任意一点的曲率值，P_x'(t)、P_y'(t)均为一阶导数，P_x”(t)、P_y”(t)均为二阶导数。

8.根据权利要求7所述一种扁管表面缺陷检测方法，其特征在于：所述步骤S41中还包括步骤S411，根据三次B样条曲线的一阶导数和二阶导数得到中心点的变量t值，根据变量t值通过曲率计算得到拟合后的第二曲线中心点曲率，一阶导数为：

二阶导数为：

曲率计算公式为：

9.根据权利要求1所述一种扁管表面缺陷检测方法，其特征在于：所述步骤S1中还包括步骤S11，将扁管表面图像通过矫正和灰度处理得到第一预期图像。

10.根据权利要求9所述一种扁管表面缺陷检测方法，其特征在于：所述步骤S1中还包括步骤S12，将第一预期图像通过自适应阈值滤波处理得到待提取图像。