[发明专利]电化学传感器、包含电化学传感器的持续式分析物测量装置以及电化学传感器的制造方法在审

专利信息
申请号: 202211224582.2 申请日: 2022-10-08
公开(公告)号: CN115956907A 公开(公告)日: 2023-04-14
发明(设计)人: 朴隼永 申请(专利权)人: UXN有限公司
主分类号: A61B5/1473 分类号: A61B5/1473
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 许静;宋海花
地址: 韩国光*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 电化学传感器 包含 持续 分析 测量 装置 以及 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种持续式分析物测量装置,其特征在于,包括:

电化学传感器,包括形成有与体内的分析物发生反应的多个电极的远端部、形成有连接到所述电极的传感器板的近端部、以及位于所述远端部与近端部之间的中间部;以及,

发送器,包括形成有电源部、通信部以及控制部中的至少一个的主基板、以及在内部对所述主基板进行收纳的外壳,粘附到皮肤上;

在沿着针的长度方向裸露的部分配置所述电化学传感器的远端部,

在皮肤被所述针切开之后所述电化学传感器的远端部被插入到体内,

所述电化学传感器包括柔性基底层、层叠到所述基底层上方的导电层以及粘附到所述导电层上方的绝缘层。

2.根据权利要求1所述的持续式分析物测量装置,其特征在于,

所述绝缘层在形成有贯通所述绝缘层的开口部的状态下粘接到所述导电层上方,

所述电极通过所述开口部裸露到外部,

所述电极同时在所述远端部的两侧面形成。

3.根据权利要求1所述的持续式分析物测量装置,其特征在于,

配备有贯通所述基底层的导通孔,

所述贯通孔通过向所述基底层照射激光并借此去除所述基底层中的一部分的激光蚀刻方式形成。

4.根据权利要求1所述的持续式分析物测量装置,其特征在于,

所述导电层通过向所述基底层溅镀金属而在所述基底层的两侧面形成。

5.根据权利要求1所述的持续式分析物测量装置,其特征在于,

形成有对所述基底层的一部分进行切开的导通孔,

所述导电层沿着所述基底层的上侧面、导通孔的表面以及所述基底层的背面无接缝地利用相同的金属材质连续层叠形成。

6.根据权利要求1所述的持续式分析物测量装置,其特征在于,

所述传感器板仅在所述近端部的一侧面形成,

所述传感器板以及接触板分别向相同的方向全部裸露,

所述传感器板以及接触板彼此相向并电性连接。

7.根据权利要求1所述的持续式分析物测量装置,其特征在于,

配备有贯通所述基底层的导通孔,

通过所述导通孔,在所述基底层的两侧面层叠的导电层彼此电性连接,

所述导通孔在所述近端部、中间部以及远端部中的至少一个形成。

8.根据权利要求1所述的持续式分析物测量装置,其特征在于,

通过利用照射到所述导电层的激光去除所述导电层的一部分的激光蚀刻,在所述导电层上形成彼此分离的多个导电岛,

配备有贯通所述基底层的导通孔,

通过所述导通孔,在所述基底层的一侧面形成的第一导电岛以及在所述基底层的另一侧面形成的第二导电岛彼此电性连接。

9.根据权利要求1所述的持续式分析物测量装置,其特征在于,

配备有贯通所述基底层的导通孔,

所述导通孔包括第一导通孔以及第二导通孔,

所述第一导通孔通过所述绝缘层与外部隔绝,

所述第二导通孔的两侧面中的至少一侧面裸露到外部。

10.根据权利要求1所述的持续式分析物测量装置,其特征在于,

在所述近端部中配备有贯通所述基底层的导通孔,

在所述远端部的第一侧面上形成向第一方向裸露的第一电极,而在所述远端部的第二侧面上形成向第二方向裸露的第二电极,

所述第一方向以及第二方向是彼此相反的方向,

所述近端部的第一侧面以所有传感器板向所述第一方向裸露的方式形成,

通过所述导通孔,所述第二侧面的第二电极与所述第一侧面的传感器板一一对应地电性连接。

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