[发明专利]光纤光栅结构检测方法

说明书

本发明提供了一种光纤光栅结构检测方法，属于光纤光栅技术领域，该光纤光栅结构检测方法包括获得实际干涉条纹、获得理论干涉条纹和对比分析步骤，实际检测光源发出的入射光从实际光纤光栅的侧部射入实际光纤光栅得到实际干涉条纹，通过仿真软件获得理论光纤光栅、理论检测光源和理论干涉条纹，通过对比实际干涉条纹的实际对比参数和理论干涉条纹的理论对比参数的差值。本发明提供的光纤光栅结构检测方法更加地直观、快捷，有效地减少了光纤光栅结构的检测时间，以便于在光纤光栅的制造过程中及时地对光纤光栅进行结构检测，而干涉条纹的相关参数，也为光栅的理论验证提供了更加丰富的验证数据。

技术领域

本发明属于光纤光栅技术领域，更具体地说，是涉及一种光纤光栅结构检测方法。

背景技术

光纤光栅是一种通过一定方法使光纤纤芯的折射率发生轴向周期性调制而形成的衍射光栅，具有体积小、熔接损耗小、全兼容于光纤、能埋入智能材料等优点，广泛应用于光纤放大器，光纤传感和光通信领域。现有技术中，为了验证实际制作的光纤光栅与理论上的差别，通常会采用光谱仪检测光纤光栅的激光光谱。

但是，现有技术中通过光谱仪只能间接推导出光纤光栅的结构，并不能直接检测光纤光栅的结构，无法得知光栅制造设备刻写出来的光纤光栅的真实结构，导致光纤光栅的研究和制作高度依赖工程经验，光纤光栅制造的成本也随之增加。

发明内容

本发明实施例提供了一种光纤光栅结构检测方法，以解决现有技术中存在的现有的光纤光栅无法直接检测结构的技术问题。

为实现上述目的，本发明提供一种光纤光栅结构检测方法，该光纤光栅结构检测方法包括以下步骤：

获得实际干涉条纹，实际检测光源在预设条件下发出入射光，入射光从实际光纤光栅的侧部射入实际光纤光栅，入射光在经过实际光纤光栅后形成干涉光，光线接收模块能够接收干涉光以形成实际干涉条纹；

获得理论干涉条纹，通过仿真软件获得具有预设结构的理论光纤光栅以及与实际检测光源参数相同的理论检测光源，理论检测光源在标定条件下和理论光纤光栅相配合获得理论干涉条纹，标定条件和预设条件相同；以及

对比分析，分别获得实际干涉条纹的实际对比参数和理论干涉条纹的理论对比参数，根据实际对比参数和理论对比参数的差值取绝对值，获得实际光纤光栅的实际结构和理论光纤光栅的预设结构之间的相似度。

可选地，在获得实际干涉条纹步骤中，实际检测光源和光线接收模块分设于实际光纤光栅的相对两侧。

可选地，在获得实际干涉条纹步骤中，预设条件包括实际检测光源和实际光纤光栅之间的预设距离、入射光的预设入射角度、入射光的预设波长和入射光的预设谱宽。

可选地，预设入射角度为90°。

可选地，预设波长为193nm-10600nm。

可选地，预设谱宽小于100nm。

可选地，实际干涉条纹由多条实际亮斑排列组成，实际对比参数包括实际亮斑的数量、实际亮斑的长度、实际亮斑的宽度以及相邻两个实际亮斑之间的间距；

理论干涉条纹由多条理论亮斑排列组成，理论对比参数包括理论亮斑的数量、理论亮斑的长度、理论亮斑的宽度以及相邻两个理论亮斑之间的间距。

可选地，其特征在于，实际光纤光栅和理论光纤光栅均满足光栅方程2dsini＝λ_n；

其中，d为光栅周期，i为入射光的入射角度，λ_n为入射光的波长。

可选地，实际检测光源包括激光器，入射光为激光。

可选地，光线接收模块为电荷耦合器件相机、接收屏或胶片。