[发明专利]光纤光栅结构检测方法

权利要求书

1.一种光纤光栅结构检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

获得实际干涉条纹，实际检测光源在预设条件下发出入射光，所述入射光从所述实际光纤光栅的侧部射入所述实际光纤光栅，所述入射光在经过所述实际光纤光栅后形成干涉光，光线接收模块能够接收所述干涉光以形成实际干涉条纹；

获得理论干涉条纹，通过仿真软件获得具有预设结构的理论光纤光栅以及与所述实际检测光源参数相同的理论检测光源，所述理论检测光源在标定条件下和所述理论光纤光栅相配合获得理论干涉条纹，所述标定条件和所述预设条件相同；以及

对比分析，分别获得所述实际干涉条纹的实际对比参数和所述理论干涉条纹的理论对比参数，根据所述实际对比参数和所述理论对比参数的差值取绝对值，获得所述实际光纤光栅的实际结构和所述理论光纤光栅的预设结构之间的相似度。

2.如权利要求1所述的光纤光栅结构检测方法，其特征在于，在所述获得实际干涉条纹步骤中，所述实际检测光源和所述光线接收模块分设于所述实际光纤光栅的相对两侧。

3.如权利要求1所述的光纤光栅结构检测方法，其特征在于，在所述获得实际干涉条纹步骤中，所述预设条件包括实际检测光源和实际光纤光栅之间的预设距离、所述入射光的预设入射角度、所述入射光的预设波长和所述入射光的预设谱宽。

4.如权利要求3所述的光纤光栅结构检测方法，其特征在于，所述预设入射角度为90°。

5.如权利要求3所述的光纤光栅结构检测方法，其特征在于，所述预设波长为193nm-10600nm。

6.如权利要求3所述的光纤光栅结构检测方法，其特征在于，所述预设谱宽小于100nm。

7.如权利要求1-6任一项所述的光纤光栅结构检测方法，其特征在于，所述实际干涉条纹由多条实际亮斑排列组成，所述实际对比参数包括所述实际亮斑的数量、所述实际亮斑的长度、所述实际亮斑的宽度以及相邻两个所述实际亮斑之间的间距；

所述理论干涉条纹由多条理论亮斑排列组成，所述理论对比参数包括所述理论亮斑的数量、所述理论亮斑的长度、所述理论亮斑的宽度以及相邻两个所述理论亮斑之间的间距。

8.如权利要求1-6任一项所述的光纤光栅结构检测方法，其特征在于，所述实际光纤光栅和所述理论光纤光栅均满足光栅方程2dsini＝λ_n；

其中，d为光栅周期，i为入射光的入射角度，λ_n为入射光的波长。

9.如权利要求1-6任一项所述的光纤光栅结构检测方法，其特征在于，所述实际检测光源包括激光器，所述入射光为激光。

10.如权利要求1-6任一项所述的光纤光栅结构检测方法，其特征在于，所述光线接收模块为电荷耦合器件相机、接收屏或胶片。