[发明专利]一种探测方法及装置

权利要求书

1.一种探测装置，其特征在于，

包括扫描系统，所述扫描系统包括微反射镜阵列，所述微反射镜阵列包括M个微反射镜；

所述探测装置还包括P个收发模组，所述P个收发模组发送的光信号通过所述M个微反射镜反射，和/或，所述P个收发模组接收经由所述M个微反射镜反射的光信号，M为大于或等于2的整数，P为小于或等于M的正整数。

2.根据权利要求1所述的探测装置，其特征在于，所述探测装置还包括N个扩束系统，所述P个收发模组发送的部分或全部光信号经由所述M个微反射镜中的一个或多个微反射镜到达所述N个扩束系统，和/或，所述P个收发模组接收经由所述N个扩束系统到达所述M个微反射镜中的一个或多个微反射镜，再由所述一个或多个微反射镜反射的光信号，所述N个扩束系统用于改变探测范围，N为小于或等于M的正整数。

3.根据权利要求2所述的探测装置，其特征在于，所述N个扩束系统包括第一扩束系统，第一收发模组发送的光信号经由第一微反射镜到达所述第一扩束系统，和/或，第一收发模组接收经由所述第一扩束系统到达第一微反射镜，再由所述第一微反射镜反射的光信号，所述第一收发模组是所述P个收发模组中的一个，所述第一微反射镜是所述M个微反射镜中的一个，且所述第一微反射镜位于所述M个微反射镜的中间位置。

4.根据权利要求1～3任一项所述的探测装置，其特征在于，所述P个收发模组中的每个收发模组包括激光器、准直系统、第一分光系统、以及接收系统。

5.根据权利要求1～4任一项所述的探测装置，其特征在于，在P小于M的情况下，所述探测装置还包括第二分光系统，所述第二分光系统用于将所述P个收发模组中的H个收发模组发出的H个光信号分为K个光信号，H为大于或等于1且小于或等于P的整数，K为大于或等于2且小于或等于M的整数。

6.根据权利要求1～5任一项所述的探测装置，其特征在于，所述M个微反射镜中的至少一个微反射镜为微机电系统MEMS反射镜。

7.根据权利要求1～6任一项所述的探测装置，其特征在于，在P等于M的情况下，第一收发模组发送的光信号通过与所述第一收发模组对应的第一微反射镜反射，和/或，第一收发模组接收经由与所述第一收发模组对应的第一微反射镜反射的光信号，所述第一收发模组是所述P个收发模组中的任意一个，所述第一微反射镜是所述M个微反射镜中的任意一个，所述P个收发模组和所述M个微反射镜一一对应。

8.根据权利要求1～7任一项所述的探测装置，其特征在于，所述P个收发模组中的一个收发模组为收发同轴结构，所述收发同轴结构用于指示所述一个收发模组发出的光信号和接收的光信号所经过的路径相同。

9.一种探测方法，应用于探测装置，其特征在于，所述探测装置包括P个收发模组和微反射镜阵列，所述微反射镜阵列包括M个微反射镜，M为大于或等于2的整数，P为小于等于M的正整数，所述方法包括：

所述P个收发模组发送至少一个光信号，

所述至少一个光信号通过所述M个微反射镜反射；

所述P个收发模组接收经由所述M个微反射镜反射的所述至少一个光信号的回波。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述探测装置还包括N个扩束系统；

所述方法还包括：所述至少一个光信号中的部分或全部光信号经由所述M个微反射镜中的一个或多个微反射镜反射后到达所述N个扩束系统，再通过所述N个扩束系统发射；

所述P个收发模组接收经由所述M个微反射镜反射的所述至少一个光信号的回波，包括：所述P个收发模组接收经由所述N个扩束系统到达所述M个微反射镜中的一个或多个微反射镜，再由所述一个或多个微反射镜反射的所述部分或全部光信号的回波。

11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

所述N个扩束系统调整焦距，以改变所述部分或全部光信号在空间中的扫描角度。