[发明专利]MLCC器件可靠性快速评估方法、系统、设备及介质

说明书

本发明涉及陶瓷电容器检测技术领域，尤其涉及一种MLCC器件可靠性快速评估方法、系统、设备及介质，包括：将待测器件并联安装于测试夹具上；将安装好待测器件的测试夹具放入变温箱，并在不同的直流电压下，以预设的直流电压方式向待测器件施加电压；在不同的变温箱预设温度下，依次测试并记录待测器件在各直流电压下的漏电流；根据不同变温箱预设温度下各直流电压对应的漏电流，计算得到待测器件的肖特基势垒；根据待测器件的肖特基势垒，判断待测器件是否为合格品。本发明通过检测不同变温箱温度、不同直流电压下的漏电流，并计算得到待测器件的肖特基势垒，从而评价MLCC器件的电学性能和可靠性，大大缩短了测试周期，且功耗低。

技术领域

本发明涉及陶瓷电容器检测技术领域，尤其涉及一种MLCC器件可靠性快速评估方法、系统、设备及介质。

背景技术

片式多层陶瓷电容器(MLCC)是陶瓷电容器的一种，主要用于消费电子、汽车电子、通信以及工业自动化、航空航天等领域，由于汽车电子和电动车的快速发展，带动车载用多层陶瓷电容器(MLCC)等高端MLCC的需求持续增长，高端MLCC产品的可靠性是重要参考指标之一。目前，MLCC失效类型主要为短路失效和开路失效两大类，其中，短路失效占绝大多数，短路失效是指在高温和电场的持续负载下，MLCC器件会出现绝缘电阻劣化和漏电流增加的现象，并最终导致器件击穿。

近年来，工业生产中对MLCC可靠性检测主要是进行高温老化实验，具体的操作是将制备好的MLCC器件放在较高温度的烘箱里并加载直流电压，然后测量器件在高温高压下的电阻变化，在规定的时间内，若器件的绝缘电阻下降一个数量级即可认定该器件为不合格品，但是这种方法高温老化的实验周期较长，一般最少为168h甚至更长时间，大大限制了MLCC的生产效率。

发明内容

本发明提供了一种MLCC器件可靠性快速评估方法、系统、设备及介质，解决的技术问题是，现有的MLCC可靠性检测需要进行高温老化实验，导致检测周期长，大大降低了MLCC的生产效率。

为解决以上技术问题，本发明提供了一种MLCC器件可靠性快速评估方法、系统、设备及介质。

第一方面，本发明提供了一种MLCC器件可靠性快速评估方法，所述方法包括以下步骤：

将待测器件并联安装于测试夹具上；

将安装好待测器件的测试夹具放入变温箱，并在不同的直流电压下，以预设的直流电压方式向待测器件施加电压；

在不同的变温箱预设温度下，依次测试并记录待测器件在各直流电压下的漏电流；

根据不同变温箱预设温度下各直流电压对应的漏电流，计算得到待测器件的肖特基势垒；

根据待测器件的肖特基势垒，判断待测器件是否为合格品。

在进一步的实施方案中，所述直流电压设为待测器件额定电压的1.0～1.5倍，待测器件施加电压的时间为1000～1500s。

在进一步的实施方案中，所述预设的直流电压方式包括设置直流电压的输出方式为步进电压，直流电压步长为0.1～0.5V，每步停留时间为2～5s，直流电压下限为0V，直流电压上限为待测器件额定电压的2～3倍。

在进一步的实施方案中，所述变温箱预设温度为85～230℃。

在进一步的实施方案中，待测器件的肖特基势垒的计算公式为：

式中，J表示漏电流；A表示有效理查德参数；T表示绝对温度；q表示电子电荷量；φ_b表示肖特基势垒；k表示玻尔兹曼常数。

在进一步的实施方案中，所述根据待测器件的肖特基势垒，判断待测器件是否为合格品的步骤包括：