[发明专利]一种准垂直型功率器件的结构及其制作方法、芯片在审

专利信息
申请号: 202211128870.8 申请日: 2022-09-16
公开(公告)号: CN115548114A 公开(公告)日: 2022-12-30
发明(设计)人: 吴龙江 申请(专利权)人: 深圳天狼芯半导体有限公司
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L21/335
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 欧国聪
地址: 518000 广东省深圳市福田区沙*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 垂直 功率 器件 结构 及其 制作方法 芯片
【权利要求书】:

1.一种准垂直型功率器件的结构,其特征在于,所述准垂直型功率器件包括:

衬底;

缓冲层,位于所述衬底的上表面,且在水平面上设有多个依次排列的沟槽;

第一金属层,设置于多个所述沟槽中且位于多个所述沟槽的下表面,所述第一金属层的上表面低于多个所述沟槽的上表面;

绝缘层,设置于多个所述沟槽中且位于所述第一金属层的上表面;

第二金属层,位于所述绝缘层的上表面和所述缓冲层的上表面。

2.如权利要求1所述的准垂直型功率器件的结构,其特征在于,还包括:

势垒层,设置于所述缓冲层上且位于所述第二金属层和所述缓冲层之间。

3.如权利要求2所述的准垂直型功率器件的结构,其特征在于,所述缓冲层为GaN,所述势垒层为ALGaN。

4.如权利要求1所述的准垂直型功率器件的结构,其特征在于,还包括:

通孔,位于所述缓冲层中以连接多个所述沟槽中的所述第一金属层;

所述通孔中填充金属。

5.如权利要求1或2所述的准垂直型功率器件的结构,其特征在于,所述沟槽的下表面与所述缓冲层的下表面位于同一平面,所述绝缘层的上表面和所述缓冲层的上表面位于同一平面;或,所述绝缘层的上表面和所述势垒层的上表面位于同一平面。

6.如权利要求1所述的准垂直型功率器件的结构,其特征在于,所述多个所述沟槽为柱形;或者

多个所述沟槽为环形,环形的多个所述沟槽层层嵌套排列。

7.一种准垂直型功率器件的制造方法,其特征在于,包括:

在衬底上表面形成第一外延层;

移除部分所述第一外延层以形成缓冲层;所述缓冲层在水平面上设有多个依次排列的沟槽;

在所述沟槽的下表面形成第一金属层;

在所述第一金属层的上表面形成绝缘层;

在所述绝缘层的上表面和所述缓冲层的上表面形成第二金属层。

8.如权利要求7所述的准垂直型功率器件的制造方法,其特征在于,所述在衬底上形成第一外延层之后还包括:

在所述第一外延层上表面形成第二外延层;

所述移除部分所述第一外延层以形成缓冲层具体为:

移除部分所述第一外延层以形成缓冲层,并移除部分所述第二外延层以形成势垒层。

9.如权利要求7所述的准垂直型功率器件的制造方法,其特征在于,所述在所述沟槽的下表面形成第一金属层之后包括:

移除部分所述缓冲层以形成通孔,并在所述通孔中填充金属。

10.一种芯片,其特征在于,所述芯片包括至少一个如权利要求1-6任一项所述的准垂直型功率器件的结构。

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