[发明专利]失效数据的存储方法、修复方法和失效数据的存储装置

说明书

本申请属于半导体自动化测试技术领域。具体提供了失效数据的存储方法、修复方法和失效数据的存储装置，该失效数据的存储方法包括对加载于被测芯片上的激励信号进行响应，生成响应信号；所述激励信号由自动测试设备的图形发生器产生；将所述响应信号和所述激励信号进行逻辑比较，获得比较结果，并对所述比较结果进行第一标记；所述比较结果包括失效数据和正常数据；将所述比较结果按照预设规则分组并根据所述第一标记对各个组进行第二标记；将所述各个组以及所述各个组所对应的第二标记进行存储。基于本申请提供的技术方案，可以提高存储效率，节约存储空间。

技术领域

本发明涉及半导体自动化测试技术领域，特别涉及一种失效数据的存储方法、修复方法和失效数据的存储装置。

背景技术

随着国内经济的发展，消费市场逐渐扩大，尤其是电子产品的需求不断扩大，因此对半导体硅片(Wafer)的需求量也就越来越大。然而这些半导体硅片都需要通过半导体测试厂的检查与测试后才能封装使用。

在现有技术的半导体硅片的测试过程中，往往直接将测试结果(测试结果中包括失效数据和正常数据)进行存储。这样一来，需要存储的数据量庞大，会占用大量的存储空间，进而降低存储效率。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种失效数据的存储方法、修复方法和失效数据的存储装置，可以提高存储效率，节约存储空间。

为了达到上述目的，本申请第一方面提供了一种失效数据的存储方法，包括：对加载于被测芯片上的激励信号进行响应，生成响应信号；所述激励信号由自动测试设备的图形发生器产生；将所述响应信号和所述激励信号进行逻辑比较，获得比较结果，并对所述比较结果进行第一标记；所述比较结果包括失效数据和正常数据；将所述比较结果按照预设规则分组并根据所述第一标记对各个组进行第二标记；将所述各个组以及所述各个组所对应的第二标记进行存储。

由上，本方面通过对于响应信号和激励信号的逻辑比较结果进行第一标记，可以标记失效数据和正常数据，通过将比较结果进行分组然后对分组后的组别进行第二标记，可以标记存在失效数据的组和均为正常数据的组，然后将标记过的组进行存储，而非直接对所有标记结果进行存储，大大降低了需要存储的数据量，从而节约了大量存储空间，提高了存储效率。

作为第一方面的一种可能的实现方式，所述对所述比较结果进行第一标记，包括：当所述比较结果为失效数据时，将所述比较结果标记为第一失效标记；当所述比较结果为正常数据时，将所述比较结果标记为第一正常标记。

由上，通过将比较结果进行第一失效标记和第一正常标记，可以方便快速定位与调取失效数据。

作为第一方面的一种可能的实现方式，所述将所述比较结果按照预设规则分组，包括：按照所述比较结果生成的先后顺序对所述比较结果排序；对于排序后的比较结果，按照预设的数据长度依次进行截取以对所述比较结果分组。

由上，所述数据长度可以根据实际工况进行任意设置，当数据量庞大时，可以将数据长度设置的较大，当数据量较少时，可以将数据长度设置的较小，基于上述预先设置的数据长度，可以实现对比较结果的合理分组，从而节约存储空间。

作为第一方面的一种可能的实现方式，所述根据所述第一标记对各个组进行第二标记，包括：当一组中存在所述失效数据时，将该组标记为第二失效标记；当一组中不存在所述失效数据时，将该组标记为第二正常标记。

由上，在某一组中存在失效数据时，将该组进行第二失效标记，从而可以在需要获取失效数据时快速定位其对应的组，从而快速且准确的定位相应的失效数据。

作为第一方面的一种可能的实现方式，所述将所述各个组以及所述各个组所对应的第二标记进行存储，包括：将所述各个组中的数据信息和所述各个组所对应的所述第二标记进行存储；其中，所述数据信息至少包括数据地址。

由上，数据信息中的数据地址便于定位该数据，数据信息中的数据内容便于查看该数据详细信息。