[发明专利]甜瓜低温弱光耐性鉴定方法

说明书

本发明提供了一种甜瓜低温弱光耐性鉴定方法，包括：测定萌发处理组和对照组分别在第一低温和第一常温下培养第n天的发芽数和胚根长度，计算活力指数；测定幼苗处理组和对照组分别在第二低温和弱光以及第二常温和中等光强下培养第m天的地上部鲜重、叶绿素含量、地下部干重和茎粗；根据D＝‑0.074+0.112VI+0.109OFW+0.258CL+0.03RDW+0.109SD计算低温弱光耐性评价值，VI、OFW、CL、RDW和SD分别是上述测定指标的耐性系数，D值越大表明耐性越强，越小表明耐性越弱。本发明能够准确鉴定甜瓜的低温弱光耐性，克服单一时期、单一指标鉴定不准确的问题，提高鉴定的准确率。

技术领域

本发明涉及植物育种技术领域，更具体地，涉及低温弱光耐性鉴定技术领域，特别是指一种甜瓜低温弱光耐性鉴定方法。

背景技术

低温弱光是早春设施甜瓜栽培的主要障碍之一，选育耐低温弱光甜瓜品种是解决该问题的有效手段，而低温弱光的准确鉴定是品种选育的关键环节。

目前甜瓜低温弱光的耐性主要是利用苗期形态指标来鉴定，而植物的耐低温弱光性是由多基因调控的数量性状，单一时期、单一指标鉴定难以从客观上准确反映甜瓜的低温弱光耐性。

因此，希望提供一种甜瓜低温弱光耐性鉴定方法，其能够准确鉴定甜瓜的低温弱光耐性，克服单一时期、单一指标鉴定不准确的问题，提高鉴定的准确率。

发明内容

为了克服上述现有技术中的缺点，本发明的一个目的在于提供一种甜瓜低温弱光耐性鉴定方法，其能够准确鉴定甜瓜的低温弱光耐性，克服单一时期、单一指标鉴定不准确的问题，提高鉴定的准确率，适于大规模推广应用。

本发明的另一目的在于提供一种甜瓜低温弱光耐性鉴定方法，其设计巧妙，测定简便快捷，成本低，适于大规模推广应用。

为达到以上目的，本发明提供了一种甜瓜低温弱光耐性鉴定方法，其特点是，包括：

(1)甜瓜萌发期和苗期低温弱光耐性指标测定

A、萌发期

将甜瓜种子用温水浸种，然后随机分为萌发处理组和萌发对照组，所述萌发处理组在第一低温下培养，所述萌发对照组在第一常温下培养，在培养第n天，统计发芽数，测定胚根长度，计算活力指数，所述活力指数＝第n天发芽率×第n天胚根长度；

B、苗期

将3叶1心期甜瓜幼苗随机分为幼苗处理组和幼苗对照组，所述幼苗处理组在第二低温和弱光下培养，所述幼苗对照组在第二常温和中等光照强度下培养，在培养第m天，测定地上部鲜重、叶绿素含量、地下部干重和茎粗；

(2)低温弱光耐性评价值计算

根据以下公式计算低温弱光耐性评价值：

D＝-0.074+0.112VI+0.109OFW+0.258CL+0.03RDW+0.109SD

其中VI是活力指数耐性系数，OFW是地上部鲜重耐性系数，CL是叶绿素含量耐性系数，RDW是地下部干重耐性系数，SD是茎粗耐性系数；

所述活力指数耐性系数＝所述萌发处理组的所述活力指数/所述萌发对照组的所述活力指数，所述地上部鲜重耐性系数＝所述幼苗处理组的所述地上部鲜重/所述幼苗对照组的所述地上部鲜重，所述叶绿素含量耐性系数＝所述幼苗处理组的所述叶绿素含量/所述幼苗对照组的所述叶绿素含量，所述地下部干重耐性系数＝所述幼苗处理组的所述地下部干重/所述幼苗对照组的所述地下部干重，所述茎粗耐性系数＝所述幼苗处理组的所述茎粗/所述幼苗对照组的所述茎粗；