[发明专利]一种高均匀性、高精度的固态硬盘用高低温老化试验机

说明书

本发明提供一种高均匀性、高精度的固态硬盘用高低温老化试验机，包括：箱体；两个试验腔，对称设置在箱体内，各试验腔左右两侧壁上均匀设置有滤风孔；设置在各试验腔一侧的进风风道和设置在各试验腔另一侧的出风风道，试验腔通过左右两侧壁上的滤风孔与对应进风风道和出风风道连通；设置在各试验腔上方的鼓风机，各鼓风机的出风口与对应进风风道上部连通，各鼓风机进风口连接有回风风道；设置在箱体下部的调温腔，调温腔分别与各出风风道和各回风风道连通；热风只能从滤风孔通过，穿越试验腔的风向单一为从试验腔的一侧壁到另一侧壁，各高度位置的固态硬盘被热风单次穿越，防止了风路上下游温度不一致造成热量持续堆积的情况。

技术领域

本发明涉及高低温试验设备技术领域，特别是涉及一种高均匀性、高精度的固态硬盘用高低温老化试验机。

背景技术

存储器件是计算机系统中的记忆设备，用来存放程序和数据，现代计算机的发展与存储器件息息相关。存储器件中的固态硬盘，凭借强性能、高速率、小体积等优势，在行业内逐渐广泛使用。固态硬盘在使用过程中，由于数据传输速度快，数据传输量大，再加上其先天体积较小，读写时产生的热量相对集中在自身主控及NAND存储颗粒上，在频繁大量读写的情况下很可能导致热量堆积、温度居高不下，因此固态硬盘生产测试过程中通常要进行严格的高低温测试。但是，由于固态硬盘使用时发热量较大，固态硬盘与测试设备连接并投入试验箱内时，测试状态下固态硬盘产生大量热量对试验箱内的温度产生较大影响，造成靠近固态硬盘处局部温度相对较高，远离固态硬盘处温度相对较低，导致试验箱内温度均匀性无法保证。

公开号为CN111330653A的发明专利公开了一种改善温度均匀性的新型环境试验箱，包括试验箱本体、送风机、空调器、空调器正面板、导风板、吹风板和下部吹风口；送风机穿设试验箱本体左侧的上端；空调器设置于送风机下方，且空调器的外壁右侧设置有空调器正面板；空调器正面板与送风机形成送风口，空调器正面板与试验箱本体的底端形成回风口；导风板设置于送风口处；吹风板设置于导风板的右侧，且与空调正面板形成一下部吹风口。

但是，若将固态硬盘放入该发明中的新型环境试验箱中，则位于风路上游的固态硬盘的热量被带到位于风路下游的固态硬盘附近形成对位于风路下游的固态硬盘的再次加热，热量持续堆积，即位于风路上游的固态硬盘区域的温度始终低于位于风路下游的固态硬盘，温度始终不均匀，试验箱内的温度均匀性依旧无法保证。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种高均匀性、高精度的固态硬盘用高低温老化试验机，用于解决现有技术中固态硬盘测试试验时产生大量热量导致试验箱内温度不均匀、且位于风路上游的固态硬盘的热量被带到位于风路下游的固态硬盘附近形成对位于风路下游的固态硬盘的再次加热的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种高均匀性、高精度的固态硬盘用高低温老化试验机，包括：

箱体；

两个用于放置固态硬盘的试验腔，对称设置在箱体内，各所述试验腔左右两侧壁上均匀设置有滤风孔，形成上下前后不通风、左右两侧通风的矩形空间；

设置在各试验腔一侧的进风风道和设置在各试验腔另一侧的出风风道，所述进风风道下部封口，所述出风风道上部封口，所述试验腔通过左右两侧壁上的滤风孔与对应进风风道和出风风道连通；

设置在各试验腔上方的鼓风机，各所述鼓风机的出风口与对应进风风道上部连通，各鼓风机进风口连接有回风风道；

设置在箱体下部的调温腔，所述调温腔分别与各出风风道和各回风风道连通；

所述鼓风机鼓出热风，由进风风道进入试验腔并流出至出风风道，再调温腔调节风温，进入回风风道并回流至鼓风机，形成风路循环。