[发明专利]一种辉光放电质谱粉末样品制样的方法在审
| 申请号： | 202211083813.2 | 申请日： | 2022-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN115586049A | 公开（公告）日： | 2023-01-10 |
| 发明（设计）人： | 唐永森;李定明 | 申请（专利权）人： | 艾格斯瑞（成都）仪器设备有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01N27/68 |
| 代理公司： | 成都市熠图知识产权代理有限公司 51290 | 代理人： | 杨兵 |
| 地址： | 610000 四川省成都市双流*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 辉光 放电 粉末 样品 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种辉光放电质谱粉末样品制样的方法，其特征在于，包括下述步骤：
（1）取两片铟片，分别为第一铟片和第二铟片；
（2）将所述第一铟片进行开通孔；
（3）将待测粉末样品装入所述第二铟片上，铺开；
（4）将所述第一铟片盖在第二铟片上，并且使所述通孔区域完全覆盖所述粉末样品；
（5）将位于所述通孔内的粉末样品压紧，即得。
2.根据权利要求1所述的一种辉光放电质谱粉末样品制样的方法，其特征在于：步骤（1）中所述第一铟片和第二铟片的制备方法为，取高纯铟并对其进行清洗处理，然后压制即得。
3.根据权利要求1所述的一种辉光放电质谱粉末样品制样的方法，其特征在于：步骤（2）中，所述通孔直径为5-15mm。
4.根据权利要求1所述的一种辉光放电质谱粉末样品制样的方法，其特征在于：步骤（3）中，将待测粉末样品装入所述第二铟片的中心位置，且待测粉末样品铺开后面积大于所述通孔的面积，使第一铟片盖上后，待测粉末样品完全覆盖通孔的位置。
5.根据权利要求1所述的一种辉光放电质谱粉末样品制样的方法，其特征在于：步骤（5）中，采用压片机进行压紧。
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