[发明专利]一种智能谷物清选试验台多参数模糊控制系统及方法在审
申请号: | 202211082993.2 | 申请日: | 2022-08-24 |
公开(公告)号: | CN116034738A | 公开(公告)日: | 2023-05-02 |
发明(设计)人: | 付明刚;胡伟;刘大欣;周德义;吴宝广;于春生;侯鹏飞;张万余;辛玥霖;张强 | 申请(专利权)人: | 吉林大学 |
主分类号: | A01F12/44 | 分类号: | A01F12/44;G05D13/62 |
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地址: | 130012 吉林*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 智能 谷物 试验台 参数 模糊 控制系统 方法 | ||
1.一种智能谷物清选试验台多参数模糊控制系统,其特征在于:试验台包括机械部分(A)、上位计算机(B)、下位控制器(C)、模拟量输入/输出装置(D)、传感采集装置(E)、人机交互装置(F)、执行机构(G)和限位报警装置(H);
所述的机械部分(A)包括喂料机构(1)、逐稿器(2)、机架(3)、上筛(4)、杂质收集机构(5)、下筛(6)、出粮收集机构(7)、大风机(8)、小风机(9)和智能控制柜(10);
所述的喂料机构(1)安装于机架(3)的最前端,其出料口悬于逐稿器(2)上方;逐稿器(2)与上筛(4)相连,安装于机架(3)的上部,下筛(6)安装于上筛(4)下方,大风机(8)和小风机(9)由下至上依次安装于逐稿器(2)下方;杂质收集机构(5)固定于机架(3)尾部,出粮收集机构(7)安装于下筛(6)下方;智能控制柜(10)放置于机架(3)外部。
2.根据权利要求1所述的一种智能谷物清选试验台多参数模糊控制系统,其特征在于:上位计算机(B)、下位控制器(C)、模拟量输入/输出装置(D)和人机交互装置(F)安装于智能控制柜(10)内部,上位计算机(B)通过以太网总线连接到下位控制器(C),下位控制器(C)通过开关信号输出接口和脉冲信号输出接口连接到执行机构(G);传感采集装置(E)连接到模拟量输入/输出装置(D),进而通过USB总线连接到上位计算机(B);人机交互装置(F)通过HDMI和USB信号总线连接到上位计算机(B);
所述的上位计算机(B)为带防尘屏蔽功能的金属机壳工业控制计算机,其处理核心数量不少于4个、主频不低于3.0GHz,内部存储单元RAM不低于8GB,USB接口不少于4个,以太网接口不少于2个;
所述的下位控制器(C)为包含开关信号输入接口、开关信号输出接口和脉冲信号输出接口的可编程控制器PLC,其内存容量不少于5000步,开关信号输入点不少于4个,开关信号输出点不少于8个,脉冲信号输出频率不少于100kHz,输出点不少于2个;
所述的模拟量输入/输出装置(D)为USB总线的多功能模拟量输入/输出采集卡,A/D输入通道不少于8路,D/A输出通道不少于6路,采样精度不低于12位。
3.根据权利要求1所述的一种智能谷物清选试验台多参数模糊控制系统,其特征在于:传感采集装置(E)包括上筛转速传感器(14)、下筛转速传感器(15)、风速传感器(16)、喂料称重传感器(17)、籽粒称重传感器(18)和杂质称重传感器(19);
所述的上筛转速传感器(14)安装在上筛电机(21)的主轴末端,测量上筛电机(21)的旋转速度,得到上筛(4)的振动频率;下筛转速传感器(15)安装在下筛电机(23)的主轴末端,测量下筛电机(23)的旋转速度,得到下筛(6)的振动频率;
所述的风速传感器(16)安装在上筛(4)、下筛(6)与杂质收集机构(5)连接处,用于测量上筛(4)和下筛(6)风道末端的风速;风速传感器为三杯式微型风速传感器,量程0-30m/s,系统误差不高于1%;
所述的喂料称重传感器(17)为柱式称重传感器,量程不低于500kg,安装在喂料机构(1)支架底座上,测量喂料机构(1)输送的谷物喂入量;
所述的籽粒称重传感器(18)为柱式称重传感器,总量程不低于500kg,由2个子传感器组成,分别安装在2个接料箱(32)下方,用于测量从下筛(6)落到2个接料箱(32)的籽粒质量;
所述的杂质称重传感器(19)为柱式称重传感器,量程不低于500kg,安装在杂质收集机构(5)尾端下方,测量杂质收集机构(5)收集到的杂质质量。
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