[发明专利]一种用于中板研磨控制的方法及系统在审
| 申请号: | 202211077375.9 | 申请日: | 2022-09-05 |
| 公开(公告)号: | CN115431174A | 公开(公告)日: | 2022-12-06 |
| 发明(设计)人: | 范光得;花安强 | 申请(专利权)人: | 昆山市恒达精密机械工业有限公司 |
| 主分类号: | B24B51/00 | 分类号: | B24B51/00;B24B1/00 |
| 代理公司: | 南京源点知识产权代理有限公司 32545 | 代理人: | 黄启兵 |
| 地址: | 215300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 用于 中板 研磨 控制 方法 系统 | ||
1.一种用于中板研磨控制的方法,其特征在于,所述方法应用于一用于中板研磨控制的系统,所述系统和图像传感器阵列通信连接,所述方法包括:
当待研磨产品输送至研磨工位的预设研磨输送通道的第N研磨区域时,通过所述第N研磨区域的图像传感器阵列对所述待研磨产品进行图像采集,生成第N区域图像采集结果;
根据所述第N研磨区域匹配第N研磨模块,提取第N研磨特征集,其中,所述第N研磨特征集包括第N研磨位置特征、第N研磨基准特征和研磨定位基准特征;
根据所述第N研磨位置特征对所述第N区域图像采集结果进行特征提取,获取第N区域待研磨特征;
判断所述第N研磨基准特征是否满足所述第N区域待研磨特征;
若不满足,对所述第N区域图像采集结果进行定位特征提取,获取待研磨产品定位特征;
根据所述研磨定位基准特征对所述待研磨产品定位特征进行调整后,启动所述第N研磨模块对所述待研磨产品进行研磨。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:
若所述第N研磨基准特征满足所述第N区域待研磨特征,关闭所述第N研磨模块,生成输送指令;
根据所述输送指令,将所述待研磨产品输送至所述预设研磨输送通道的第N+1研磨区域。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:
当所述第N研磨区域,无匹配研磨模块,获取第一研磨基准特征、第二研磨基准特征直到第N-1研磨基准特征;
对所述第N区域图像采集结果进行研磨特征提取,生成全域研磨特征信息;
将所述第一研磨基准特征、第二研磨基准特征直到第N-1研磨基准特征合并,生成全域研磨基准特征;
判断所述全域研磨特征信息是否满足所述全域研磨基准特征;
若不满足,通过入料搬运机器臂将所述待研磨产品搬运至第一研磨区域;若满足,通过出料搬运机器臂将所述待研磨产品搬运出所述研磨工位。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述研磨定位基准特征对所述待研磨产品定位特征进行调整,包括:
根据所述研磨定位基准特征,获取研磨水平面定位基准特征和研磨垂直面定位基准特征,其中,所述研磨水平面和所述研磨垂直面互相垂直;
根据所述研磨水平面定位基准特征对所述待研磨产品定位特征进行水平定位调整;
根据所述研磨垂直面定位基准特征对所述待研磨产品定位特征进行垂直定位调整,获取已定位待研磨产品。
5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述启动所述第N研磨模块对所述待研磨产品进行研磨,包括:
根据所述第N研磨模块,获取第N研磨参数集,其中,所述第N研磨参数集包括研磨组件部署位置参数、研磨组件部署角度参数和研磨组件研磨时间参数;
根据所述第N研磨区域的图像传感器阵列对所述已定位待研磨产品进行图像采集,生成第N区域定位图像采集结果;
根据所述第N研磨位置特征对所述第N区域图像采集结果进行特征提取,获取待研磨区域初始定位特征;
根据所述第N研磨基准特征对所述待研磨区域进行目标标识,获取研磨目标定位特征;
根据所述研磨目标定位特征和所述待研磨区域初始定位特征,对所述研磨组件部署位置参数、所述研磨组件部署角度参数和所述研磨组件研磨时间参数进行优化,获取第N研磨参数优化结果;
根据所述第N研磨参数优化结果控制所述第N研磨模块对所述待研磨产品进行研磨。
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