[发明专利]一种有机单晶偏振光发射器件及其制备方法在审
申请号: | 202211073359.2 | 申请日: | 2022-09-02 |
公开(公告)号: | CN115377327A | 公开(公告)日: | 2022-11-22 |
发明(设计)人: | 揭建胜;张秀娟;贾若飞;李佳鑫 | 申请(专利权)人: | 苏州纳捷森光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L51/52 | 分类号: | H01L51/52;H01L51/56 |
代理公司: | 北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙) 11391 | 代理人: | 赵云秀 |
地址: | 215123 江苏省苏州市工业园区金*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 有机 偏振光 发射 器件 及其 制备 方法 | ||
1.一种有机单晶偏振光发射器件,其特征在于,包括分布式布拉格反射结构以及形成在所述分布式布拉格反射结构的表面的有机单晶发光器件;
所述有机单晶发光器件包括有机单晶发光层,所述有机单晶发光层的有机单晶具有各向异性的分子堆积结构,所述分布式布拉格反射结构是由折射率不同的两种薄膜材料交替堆叠而成;
所述分布式布拉格反射结构的所述两种薄膜材料、薄膜厚度以及交替周期数均与所述有机单晶发光层的有机单晶的本征发射光光谱匹配。
2.根据权利要求1所述的有机单晶偏振光发射器件,其特征在于,所述两种薄膜材料的选择需要满足以下公式:
其中,R表示所述分布式布拉格反射结构的预设折射率,所述预设折射率R根据所述有机单晶的本征发射光光谱确定出,nH表示两种薄膜材料中较高折射率的薄膜材料的折射率,nL表示两种薄膜材料中较低折射率的薄膜材料的折射率,m表示两种薄膜材料的交替周期,ng表示制备所述分布式布拉格反射结构时所用基底的折射率,neff表示有效折射率,Δn表示折射率差值,其中,所述有效折射率neff的计算公式为:
所述折射率差值Δn的计算公式为:Δn=nH-nL;
Δλstopband表示所述分布式布拉格反射结构的有效反射波长范围,λ0表示所述分布式布拉格反射结构的中心反射波长。
3.根据权利要求2所述的有机单晶偏振光发射器件,其特征在于,所述分布式布拉格反射结构中单层薄膜的厚度为所述有机单晶的本征发射光的波长的1/3-1/5。
4.根据权利要求3所述的有机单晶偏振光发射器件,其特征在于,所述两种薄膜材料中较高折射率的薄膜材料的折射率nH为范围在1.8-4.5中任一值;
所述两种薄膜材料中较低折射率的薄膜材料的折射率nL为范围在1.2-2.0中任一值;
所述两种薄膜材料的交替周期m为2-10中任一值。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的有机单晶偏振光发射器件,其特征在于,所述有机单晶发光层选择为荧光量子产率为范围30-100%中任一值,且载流子迁移率为范围在0.5-100cm2/V·s中任一值的有机单晶。
6.根据权利要求1-4中任一项所述的有机单晶偏振光发射器件,其特征在于,所述有机单晶发光器件由下至上依次形成有透明导电电极、空穴注入层、所述有机单晶发光层、电子传输层、电子注入层以及不透明电极层,所述透明导电电极层形成在所述分布式布拉格反射结构的表面。
7.根据权利要求6所述的有机单晶偏振光发射器件,其特征在于,所述有机单晶发光器件还包括聚合物绝缘层,所述有机单晶发光层、所述电子传输层以及所述电子注入层均包覆于所述聚合物绝缘层,且所述电子注入层的邻近所述不透明电极层的表面暴露出所述聚合物绝缘层。
8.一种如权利要求1-7中任一项所述的有机单晶偏振光发射器件的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:
由折射率不同的两种薄膜材料交替堆叠形成分布式布拉格反射结构;
在所述分布式布拉格反射结构的表面形成有机单晶发光器件。
9.根据权利要求8所述的制备方法,其特征在于,所述在所述分布式布拉格反射结构的表面形成有机单晶发光器件,包括如下步骤:
在所述分布式布拉格反射结构的表面沉积透明导电电极;
在所述透明导电电极表面形成空穴注入层;
将具有各向异性的分子堆积结构的有机单晶转移至所述空穴注入层表面,以在所述空穴注入层表面形成有机单晶发光层;
在所述有机单晶发光层的表面依次形成电子传输层、电子注入层以及不透明电极层,从而在所述分布式布拉格反射结构的表面形成有机单晶发光器件。
10.根据权利要求9所述的制备方法,其特征在于,所述将具有各向异性的分子堆积结构的有机单晶转移至所述空穴注入层表面,以在所述空穴注入层表面形成有机单晶发光层之后,还包括如下步骤:
将聚合物溶液施加于所述有机单晶发光层四周,以形成包覆在所述有机单晶发光层的四周,且露出所述有机单晶发光层的表面的聚合物绝缘层;
所述在所述有机单晶发光层的表面依次形成电子传输层、电子注入层以及不透明电极层,从而在所述分布式布拉格反射结构的表面形成有机单晶发光器件的步骤中,使得所述聚合物绝缘层包覆在所述电子传输层和所述电子注入层的四周,且暴露出所述电子注入层的表面。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州纳捷森光电技术有限公司,未经苏州纳捷森光电技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211073359.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:射频阻抗匹配方法及系统、半导体工艺设备
- 下一篇:一种生物基材回收输送系统
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L51-00 使用有机材料作有源部分或使用有机材料与其他材料的组合作有源部分的固态器件;专门适用于制造或处理这些器件或其部件的工艺方法或设备
H01L51-05 .专门适用于整流、放大、振荡或切换且并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的;具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的电容器或电阻器
H01L51-42 .专门适用于感应红外线辐射、光、较短波长的电磁辐射或微粒辐射;专门适用于将这些辐射能转换为电能,或者适用于通过这样的辐射进行电能的控制
H01L51-50 .专门适用于光发射的,如有机发光二极管
H01L51-52 ..器件的零部件
H01L51-54 .. 材料选择