[发明专利]一种冲击试样加工精度检测系统及检测方法

权利要求书

1.一种冲击试样加工精度检测系统，其特征在于，包括相机装置及识别检测装置，所述相机装置包括正视相机(1)、侧视相机(2)和俯视相机(3)，所述正视相机(1)用于设置于试样本体(8)的前方以对所述试样本体(8)的前方拍摄，所述侧视相机(2)用于设置于所述试样本体(8)的左侧方或右侧方以对所述试样本体(8)的左侧方或右侧方拍摄，所述俯视相机(3)用于设置于所述试样本体(8)的上方以对所述试样本体(8)的上方拍摄，所述识别检测装置与所述正视相机(1)、所述侧视相机(2)及所述俯视相机(3)连接，所述识别检测装置用于识别所述正视相机(1)、所述侧视相机(2)及所述俯视相机(3)的拍摄图像，并对所述拍摄图像进行尺寸测量。

2.根据权利要求1所述的冲击试样加工精度检测系统，其特征在于，还包括送样机构(5)和试样托盘(6)，所述相机装置设于所述送样机构(5)的一端，所述试样托盘(6)用于放置所述试样本体(8)，所述试样托盘(6)设置于所述送样机构(5)上，所述送样机构(5)用于驱动所述试样托盘(6)向靠近所述相机装置一端运动，以使所述试样本体(8)同时位于所述正视相机(1)、所述侧视相机(2)及所述俯视相机(3)的拍摄范围内。

3.根据权利要求2所述的冲击试样加工精度检测系统，其特征在于，所述试样托盘(6)上设有第一检测传感器，所述第一检测传感器用于检测所述试样托盘(6)上是否有所述试样本体(8)，所述第一检测传感器与所述送样机构(5)连接，当所述第一检测传感器检测到所述试样托盘(6)上有所述试样本体(8)时，所述送样机构(5)驱动所述试样托盘(6)沿第一方向运动到预设位置。

4.根据权利要求3所述的冲击试样加工精度检测系统，其特征在于，还包括试样定位装置(7)，所述试样定位装置(7)设于所述相机装置一侧，所述试样定位装置(7)用于对运动到所述预设位置的所述试样本体(8)进行定位。

5.根据权利要求4所述的冲击试样加工精度检测系统，其特征在于，所述试样定位装置(7)上设有第二检测传感器，所述第二检测传感器与所述相机装置连接，所述第二检测传感器用于检测所述试样本体(8)是否定位到位，当所述第二检测传感器到所述试样本体(8)定位到位后，所述相机装置对所述试样本体(8)进行拍摄。

6.根据权利要求4所述的冲击试样加工精度检测系统，其特征在于，所述试样托盘(6)上设有限位卡槽(61)，所述限位卡槽(61)的延伸方向为第二方向，所述第二方向与所述第一方向相垂直，所述试样定位装置(7)包括两个伸缩气缸(71)，两个所述伸缩气缸(71)分别位于所述送样机构(5)的两侧，当两个所述伸缩气缸(71)伸缩，以推动所述试样本体(8)沿所述第二方向移动，以对所述试样本体(8)进行定位后，所述伸缩气缸(71)缩回。

7.根据权利要求1所述的冲击试样加工精度检测系统，其特征在于，还包括相机位置调整装置(4)，所述正视相机(1)、所述侧视相机(2)及所述俯视相机(3)分别与对应的所述相机位置调整装置(4)连接。

8.根据权利要求1所述的冲击试样加工精度检测系统，其特征在于，所述识别检测装置包括图像识别模块和测量模块，所述相机装置与所述图像识别模块连接，所述图像识别模块与所述测量模块连接。

9.根据权利要求8所述的冲击试样加工精度检测系统，其特征在于，所述识别检测装置还包括语音播报模块，所述语音播报模块与所述测量模块连接。

10.一种冲击试样加工精度检测方法，其特征在于，采用如权利要求1-9任一项所述的冲击试样加工精度检测系统，包括以下步骤：

S1：将试样本体(8)置于所述冲击试样加工精度检测系统的相机装置的拍摄范围内；

S2：所述相机装置的正视相机(1)、侧视相机(2)及俯视相机(3)分别对所述试样本体(8)的三个面进行拍摄；

S3：所述相机装置将所拍摄图像传输到所述冲击试样加工精度检测系统的识别检测装置；

S4：所述识别检测装置对所述拍摄图像进行识别，并检测所述拍摄图像的尺寸。