[发明专利]一种循环冗余校验的实现方法、装置和存储介质

说明书

本申请实施例公开了一种循环冗余校验的实现方法、装置和存储介质。本申请可以在获取多个输入数据以及每一输入数据的数据位宽时，确定所述多个输入数据中的最大位宽，然后通过对位宽小于最大位宽的输入数据进行预处理，得到位宽与所述最大位宽相同的处理后的输入数据，进而依据输入数据确定对应的第二CRC系数，将所述处理后的输入数据和第二CRC系数输入所述CRC运算单元中获得对应的计算结果，使得位宽小于最大位宽的输入数据可以和位宽等于最大位宽的输入数据一样，利用同样的CRC运算单元计算，而不需要针对不同位宽的输入数据实例化不同的CRC运算单元，极大的节省了芯片资源。

技术领域

本申请涉及通信技术领域，特别涉及一种循环冗余校验的实现方法、装置和存储介质。

背景技术

循环冗余校验(Cyclic Redundancy Check，CRC)是通信系统中常用的差错控制方式，其目的是为了保证数据传输的正确性。CRC校验是发送端在发送数据时，会将待发送的数据输入至CRC运算单元以生成CRC码(即监督码)，然后将CRC码附加在待发送的数据后面并发送，以使接收端接收到包含CRC码的数据时，可以根据CRC码校验数据在传输过程中是否发生错误。

其中，CRC运算单元在针对输入数据做CRC运算以生成CRC码时，不同位宽的输入数据做CRC运算的运算逻辑是不同的。因此，为了针对不同位宽的输入数据做CRC运算，需要将不同位宽的输入数据对应的CRC运算的子程序分别实例化，实例化的过程中需要的运算逻辑比较多，且占用了较多的芯片面积，造成了资源的浪费。例如，一个芯片上需要执行32bit、64bit、96bit、128bit、160bit、192bit、224bit、256bit这8个不同位宽的输入数据的CRC运算时，需要在芯片上产生8个不同的运算单元，十分耗费芯片资源。

发明内容

本申请公开了一种循环冗余校验的实现方法、装置和存储介质，针对不同位宽的输入数据，可以采用通用的一套运算逻辑进行CRC运算，简化了针对不同位宽的输入数据进行CRC运算的运算逻辑，节省了芯片资源。

根据本申请实施例的第一方面，提供一种循环冗余校验的实现方法，其特征在于，所述方法包括：

获取多个输入数据以及每一输入数据的数据位宽，确定所述多个输入数据中的最大位宽；

针对每一输入数据，在所述输入数据的位宽等于所述最大位宽的情况下，根据所述最大位宽确定所述最大位宽的输入数据对应的第一CRC系数，将所述最大位宽的输入数据和所述第一CRC系数输入至CRC运算单元，得到所述最大位宽的输入数据对应的计算结果；

在所述输入数据的位宽小于所述最大位宽的情况下，将数据位宽小于所述最大位宽的输入数据进行预处理得到处理后的输入数据，所述处理后的输入数据的数据位宽等于所述最大数据位宽，并确定所述输入数据对应的第二CRC系数，将所述处理后的输入数据和所述第二CRC系数输入所述CRC运算单元中获得对应的计算结果。

可选地，所述在所述输入数据的位宽小于所述最大位宽的情况下，将数据位宽小于所述最大位宽的输入数据进行预处理得到处理后的输入数据包括：

对所述数据位宽小于所述最大位宽的输入数据进行高位补0处理，使得处理后的输入数据的数据位宽等于所述最大位宽。

可选地，所述确定所述输入数据对应的第二CRC系数具体包括：

根据所述输入数据的有效位宽选择所述输入数据对应的第二CRC系数，其中所述第二CRC系数的数据位宽与所述输入数据的有效位宽相等。

可选地，所述方法还包括：

获取多个CRC标准下的CRC系数；

其中，所述确定所述输入数据对应的第二CRC系数具体包括：