[发明专利]一种开关机冲击自动化测试装置与系统

说明书

本发明主要涉及电子产品的可靠性测试领域，为了解决电子产品的开关机冲击测试需要人工进行测试，耗时大、效率低下的问题，本发明提供这一种开关机冲击自动化测试装置与系统，所述装置在通电时与被测电子设备连接，所述装置包括交流输入、AC‑DC电源模块、单片机、TTL串口、USB端口模块和双向可控硅控制模块；所述AC‑DC电源模块、TTL串口以及USB端口模块分别与单片机连接，开关机测试的时候单片机通过TTL串口与被测电子设备相连，单片机通过双向可控硅控制模块控制被测电子设备通断电，通电的时候被测电子设备开启，单片机通过TTL串口与被测电子设备进行通信获取打印信息，测试被测电子设备功能是否正常。

技术领域

本发明主要涉及电子设备可靠性测试领域，尤其是涉及一种开关机冲击自动化测试装置与系统。

背景技术

电子产品开关机冲击测试在电子产品的可靠性测试中属于一个重要测试点；电子产品开关机冲击测试可以验证被测电子设备电源与各模块的耐受电压，电流冲击能力；以及验证控制板在反复通断电冲击下是否会出现程序丢失等故障。现有电子产品开关机冲击测试普遍采用人工来进行测试，耗时大、效率低，随着智能化时代的到来有必要采用更加智能的自动化方法来对电子设备进行开关机冲击测试。

发明内容

本发明所要解决的技术问题：

提供一种开关机冲击自动化测试装置与系统解决电子产品的开关机冲击测试需要人工进行测试，耗时大、效率低的问题。

本发明解决上述技术问题所采用的技术方案：

一方面，本发明提供一种开关机冲击自动化测试装置，所述装置包括交流输入、AC-DC电源模块、单片机、TTL串口、USB端口模块和双向可控硅控制模块；所述AC-DC电源模块、TTL串口以及USB端口模块分别与单片机连接，在执行开关机测试时，所述装置通过TTL串口与被测电子设备相连，单片机通过双向可控硅控制模块控制被测电子设备通断电，并通过TTL串口与被测电子设备进行通信获取打印信息，测试被测电子设备功能是否正常。

进一步的，所述装置还包括显示屏，所述显示屏与单片机相连，用于显示测试过程中的设置参数和测试结果。

进一步的，所述AC-DC电源模块通过隔离电路将市电转换为5V低压直流电，再通过线性电源芯片将5V低压直流电转换为3.3V直流电为单片机、USB端口模块、TTL串口、双向可控硅控制模块供电。

进一步的，所述双向可控硅控制模块包括双向可控硅、光耦以及外围电路，所述单片机通过IO口控制双向可控硅控制模块中含过零检测电路的光耦的通断，实现对双向可控硅控制模块的控制，双向可控硅控制模块通过AC插座与被测电子设备相连。

另一方面，本发明还提供一种开关机冲击自动化测试系统，包括上述测试装置，还包括信号输入设备，所述信号输入设备与测试装置连接，用于设置开关机参数和判定标准数据值。

进一步的，所述信号输入设备与测试装置的USB端口模块连接，所述USB端口模块包括USB转TTL芯片，用户可通过USB端口传输被测电子设备的通断电时间，被测电子设备的TTL串口的符号率、停止位和校验位，以及被测电子设备是否正常工作的判定标准数据。

本发明的有益效果：

本发明所述的一种开关机冲击自动化测试装置被通过设置开关机参数和判定标准数据值，进行自动化测试，不需要人工多次反复地进行带电子产品的开关机自动化测试，耗时短、效率高，且不受测试时间和地点的限制。

附图说明

图1为本发明所述一种开关机冲击自动化测试装置的结构框图。

图2为本发明所述AC-DC电源模块的电路结构图。

图3为本发明所述单片机接口及外围电路结构图。

图4为本发明所述USB端口模块电路结构图。