[发明专利]一种开关机冲击自动化测试装置与系统在审
申请号: | 202211054224.1 | 申请日: | 2022-08-31 |
公开(公告)号: | CN115327280A | 公开(公告)日: | 2022-11-11 |
发明(设计)人: | 罗里刚;向洪元;杨显江;周均;彭军;李德洪 | 申请(专利权)人: | 四川长虹网络科技有限责任公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 成都虹桥专利事务所(普通合伙) 51124 | 代理人: | 吴中伟 |
地址: | 621000 四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 开关机 冲击 自动化 测试 装置 系统 | ||
1.一种开关机冲击自动化测试装置,其特征在于,所述装置包括交流输入、AC-DC电源模块、单片机、TTL串口、USB端口模块和双向可控硅控制模块;所述AC-DC电源模块、TTL串口以及USB端口模块分别与单片机连接,在执行开关机测试的时,所述装置通过TTL串口与被测电子设备相连,单片机通过双向可控硅控制模块控制被测电子设备通断电,并通过TTL串口与被测电子设备进行通信获取打印信息,测试被测电子设备功能是否正常。
2.根据权利要求1所述的一种开关机冲击自动化测试装置,其特征在于,所述装置还包括显示屏,所述显示屏与单片机相连,用于显示测试过程中的设置参数和测试结果。
3.根据权利要求2所述的一种开关机冲击自动化测试装置,其特征在于,所述AC-DC电源模块通过隔离电路将市电转换为5V直流电,再通过线性电源芯片将5V直流电转换为3.3V直流电为单片机、USB端口模块、TTL串口、双向可控硅控制模块供电。
4.根据权利要求1所述的一种开关机冲击自动化测试装置,其特征在于,所述双向可控硅控制模块包括双向可控硅、光耦以及外围电路,所述单片机通过IO口控制双向可控硅控制模块中含过零检测电路的光耦的通断实现对双向可控硅控制模块的控制,双向可控硅控制模块通过AC插座与被测电子设备相连。
5.一种开关机自冲击自动化测试系统,包括权利要求1-4任意一项所述的一种开关机冲击自动化测试装置,其特征在于,还包括信号输入设备,所述信号输入设备与所述测试装置相连,用于设置开关机参数和判定标准数据值。
6.根据权利要求5所述的一种开关机冲击自动化测试系统,其特征在于,所述信号输入设备与所述测试装置的USB端口模块连接,所述USB端口模块包括USB转TTL芯片,通过USB端口传输被测电子设备的通断电时间,被测电子设备的TTL串口的符号率、停止位和校验位,以及被测电子设备是否正常工作的判定标准数据。
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