[发明专利]一种用于深层土体触探测试的渐进式变径法触探测试方法在审

专利信息
申请号: 202210979501.3 申请日: 2022-08-16
公开(公告)号: CN115198716A 公开(公告)日: 2022-10-18
发明(设计)人: 雷文;李凌健 申请(专利权)人: 中铁上海设计院集团有限公司
主分类号: E02D1/02 分类号: E02D1/02
代理公司: 上海申蒙商标专利代理有限公司 31214 代理人: 周宇凡
地址: 200070 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 深层 土体触 探测 渐进 式变径法触 方法
【说明书】:

发明涉及一种用于深层土体触探测试的渐进式变径法触探测试方法,将所述变径触探杆整体压入土体,当到达嵌套在最外围的第一触探杆的杆长深度时,使用所述施力装置对其余的触探杆继续进行顶推,使其余触探杆继续向下压入土体直至达到嵌套在第一触探杆的内的第二触探杆的杆长深度时,使用所述施力装置再次对其余的触探杆继续进行顶推;以此往复进行渐进式压入,直至最后一根触探杆在所述施力装置的作用下顶推到位,完成深层土体触探测试。本发明的优点是:通过不同触探杆的渐进式操作,加大触探测试深度,通过改变触探设备横截面直径的方式,减少深层高应力地基土对触探设备的摩阻力,同时便于在触探杆回收时同步实现清理,便于回收再使用。

技术领域

本发明涉及土体触探技术领域,尤其是一种用于深层土体触探测试的渐进式变径法触探测试方法。

背景技术

近年来,国家在开展各类型基础设施建设工作过程中,往往需要分析拟建建构筑物在建设场地所受的应力状态,经常需要测定土层的应力,触探法是经常使用的地基土应力测试方法。由于地基土应力随着深度的增加会不断加强,当触探设备进入地基土深度较深时,会出现触探设备受地基土摩擦力影响,难以压入的情况,因此深层土体触探测试深度有限,故触探法工程适用性也有限。

发明内容

本发明的目的是根据上述现有技术的不足,提供了一种用于深层土体触探测试的渐进式变径法触探测试方法,通过在土层内采用渐进的方式依次压入直径由大至小的触探杆,有效降低对触探装置的摩阻力,实现深层土体触探测试。

本发明目的实现由以下技术方案完成:

一种用于深层土体触探测试的渐进式变径法触探测试方法,其特征在于:该触探测试方法包括以下步骤:

根据土体触探的深度组装变径触探杆,所述变径触探杆采用嵌套式伸缩结构由若干根触探杆构成,令所述变径触探杆的伸出长度满足于土体触探的深度要求,同时组装与所述变径触探杆的触探杆的数量及位置对应的施力装置;

使用施力装置对所述变径触探杆顶推使其压入土体,在压入过程中,使用所述变径触探杆底部设置的触探装置进行土体触探测试;

所述施力装置首先将所述变径触探杆整体压入土体,当到达嵌套在最外围的第一触探杆的杆长深度时,使用所述施力装置对其余的触探杆继续进行顶推,使其余触探杆继续向下压入土体直至达到嵌套在第一触探杆的内的第二触探杆的杆长深度时,使用所述施力装置再次对其余的触探杆继续进行顶推;以此往复进行渐进式压入,直至最后一根触探杆在所述施力装置的作用下顶推到位,完成深层土体触探测试。

在所述变径触探杆的各触探杆之间分别设置限位结构,通过该限位结构可伸出的触探杆的移动行程进行限制,以控制所述变径触探杆的触探深度。

将所述变径触探杆的各触探杆的底部组合设置为锥形体,使用所述施力装置对所述变径触探杆进行上拔,利用各触探杆的底部对嵌套在其内侧且相邻的触探杆表面进行刮除清理。

所述施力装置包括若干顶体拼装构成施力顶体以及施力器械,所述顶体的数量与所述触探杆的数量相对应,若干所述顶体拼装构成整体,所述施力顶体通过顶杆与所述施力器械连接。

所述顶杆设置在对应于尺寸最小的触探杆的顶体上,其余的顶体分别依次嵌套在所述顶杆上且与顶杆构成螺纹配合连接。

本发明的优点是:通过不同触探杆的渐进式操作,加大触探测试深度,通过改变触探设备横截面直径的方式,减少深层高应力地基土对触探设备的摩阻力,同时便于在触探杆回收时同步实现清理,便于回收再使用;具有技术方案合理、创新性强、可操作性强、可有效加深触探测试深度,扩大触探测试工程适用性等优点。

附图说明

图1为本发明中外层触探杆的结构示意图;

图2为本发明中内层触探杆的结构示意图;

图3为本发明中中心触探杆的结构示意图;

图4为本发明中应力缓冲环的结构示意图;

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