[发明专利]一种控制器试验系统及方法

权利要求书

1.一种控制器试验系统，其特征在于，包括：向被测控制器提供测试信号的输出模块、采集被测控制器输出脉冲信号的采集模块、与被测控制器连接的连接器；

所述输出模块为一路输出通道，所述输出通道既向被测控制器供电，又向被测控制器提供测试信号；所述输出通道输出测试信号的脉宽、脉冲周期和脉冲数量均为变量；

测试信号进入被测控制器输出多个脉冲信号，多个脉冲信号的脉宽参数、脉冲周期参数、峰值电压参数、负载电流参数中至少一个参数不同；

所述采集模块为多路采集通道，每路采集通道采集一个脉冲信号；

所述连接器将输出模块与被测控制器、采集模块与被测控制器电连接。

2.根据权利要求1所述的控制器试验系统，其特征在于，还包括：用于测量脉冲信号参数的处理模块；

所述处理模块与多路所述采集通道均电连接，所述处理模块提取每路采集通道的脉冲信号，所述处理模块的计数器通道采集脉冲信号的脉冲周期参数和脉宽参数，所述处理模块的采样精密电阻和ARM芯片采集脉冲信号的峰值电压参数和负载电流参数。

3.根据权利要求2所述的控制器试验系统，其特征在于，所述计数器通道包括：用于确定脉宽参数的脉宽测量单元、用于复核脉宽参数的脉冲计数单元、用于确定脉冲周期参数的周期采集单元和用于复核脉冲周期参数的频率采集单元；

脉冲计数单元和脉宽测量单元在脉冲信号的整个采集周期实时确定及复核脉宽参数；周期采集单元在脉冲信号的低频率时段确定脉冲周期，频率采集单元在脉冲信号的高频率时段复核脉冲周期。

4.根据权利要求1所述的控制器试验系统，其特征在于，还包括调控板和AC-DC电源，所述输出模块、所述调控板和所述AC-DC电源依次电连接；

所述AC-DC电源产生信号源，所述调控板包括P沟道MOS管和调控芯片，信号源通过P沟道MOS管，由调控芯片输出控制信号，控制信号和输出信号调制成测试信号，测试信号通过输出模块输出至被测控制器。

5.根据权利要求1所述的控制器试验系统，其特征在于，所述采集模块为多路输入通道，多路所述输入通道为并行输入通道，至少一路所述输入通道采集并记录被测控制器的输出电压、输出电流、输出脉冲和/或输出周期；

所述连接器包括连接件、一个输出接口和多个输入接口，输出接口和输入接口集成于连接件，输出接口连接所述输出通道，输入接口的数量·所述输入通道的数量，每个所述输入通道对应一个输入接口。

6.根据权利要求1所述的控制器试验系统，其特征在于，还包括自检板卡，所述自检板卡的输入端连接所述输出模块，所述自检板卡的输出端连接所述采集模块；

所述自检板卡具有N路自检通道，所述输出模块连接一路自检通道，所述采集模块的每个所述采集通道均连接一路自检通道；

AC-DC电源、调控板、输出模块、自检板卡和采集模块形成自检通道。

7.根据权利要求6所述的控制器试验系统，其特征在于，所述自检板卡包括N个继电器，每个继电器的常闭触点接连接器的接线端，每个继电器的常开触点接自检板卡的自检端口。

8.一种控制器试验方法，其特征在于，包括：

输出模块向被测控制器输出一路测试信号；

采集模块接收被测控制器发送的多路脉冲信号；

每路脉冲信号进入采集模块的一路采集通道采集该脉冲信号的参数。

9.根据权利要求8所述的控制器试验方法，其特征在于，所述参数包括脉冲周期参数、脉宽参数、峰值电压参数和负载电流参数；

计数器通道的脉宽测量单元确定脉宽参数，脉冲计数单元复核脉宽参数，计数器通道的周期采集单元确定脉冲周期参数，计数器通道的频率采集单元复核脉冲周期参数。

10.根据权利要求8所述的控制器试验方法，其特征在于，测试信号为信号源通过P沟道MOS管，由调控芯片输出控制信号，控制信号和输出信号调制而成。