[发明专利]一种微流控芯片分析仪、微流控芯片及检测方法

权利要求书

1.一种微流控芯片分析仪，其特征在于，包括：驱动装置，以及过程检测装置；

所述驱动装置包括至少一个驱动模块，所述驱动模块包括：

至少两个堆叠设置的泵体，所述泵体的第一面设置有容置内腔，与所述第一面相对立的第二面设置有通气管道，所述通气管道用于连通到外部的微流控芯片；

以及

压电变形部；所述压电变形部设置在相邻的所述泵体之间，且位于其中一个所述泵体的所述容置内腔中，而与其中另一个所述泵体的所述第二面之间形成挤压腔，所述通气管道连通所述挤压腔；

所述过程检测装置用于检测所述微流控芯片中流体的位置，并根据流体位置而控制所述压电变形部产生形变，以控制流体在所述微流控芯片中的移动过程。

2.根据权利要求1所述的微流控芯片分析仪，其特征在于，所述泵体的第二面上设置有密封槽；

在一个所述驱动模块中，相邻的所述泵体之间设置有密封圈，所述密封圈嵌于所述密封槽内，所述压电变形部抵靠所述密封圈，所述密封圈环绕形成所述挤压腔。

3.根据权利要求2所述的微流控芯片分析仪，其特征在于，所述压电变形部包括金属基板，以及设置在所述金属基板上的压电陶瓷；

所述容置内腔包括位于中间的避让孔，以及位于所述避让孔边缘处的限位台阶；

所述金属基板位于所述限位台阶内并抵靠所述密封圈，所述压电陶瓷位于所述避让孔内。

4.根据权利要求2所述的微流控芯片分析仪，其特征在于，所述泵体的侧壁上开设有开槽，所述开槽连通所述容置内腔，并用于穿过连接所述压电变形部的导线。

5.根据权利要求1所述的微流控芯片分析仪，其特征在于，所述泵体设置有N个，N个所述泵体依次叠加且相邻所述泵体之间连接所述压电变形部而形成(N-1)个所述驱动模块，且(N-1)个所述驱动模块分别对应的(N-1)个所述通气管道分别与微流控芯片中的(N-1)个微控流道相连通。

6.根据权利要求1所述的微流控芯片分析仪，其特征在于，所述过程检测装置包括:反射式光电检测器、透射式光电检测器或/和电极导电率检测器；或者

所述通气管道上安装有压力传感器。

7.一种微流控芯片，其特征在于，用于如权利要求1-6任一所述微流控芯片分析仪相配使用，其中所述微流控芯片包括：芯片板体；以及开设在所述芯片板体上的加样孔、公共进样通道、至少一个测试通道、废液通道、以及通气孔；

所述加样孔用于样品进入；

所述公共进样通道连通所述加样孔，并用于对样品进行导流；

所述测试通道连通所述公共进样通道，并用于对样品进行检测；

所述废液通道与所述测试通道并联连接在所述公共进样通道上，并用于吸收公共进样通道上多余的样品；

所述通气孔设置有多个，多个所述通气孔分别位于所述测试通道和所述废液通道的末端，且分别可拆卸连接所述微流控芯片分析仪的多个通气管道。

8.根据权利要求7所述的微流控芯片，其特征在于，所述测试通道上设置有多个功能区，多个所述功能区之间设置有液位传感腔，所述液位传感腔与所述过程检测装置相对应设置，以使流经液位传感腔的样品被所述过程检测装置所检测。