[发明专利]一种用于恒温快速核酸扩增检测分析仪的多温区校准方法在审
| 申请号: | 202210958349.0 | 申请日: | 2022-08-11 |
| 公开(公告)号: | CN115031871A | 公开(公告)日: | 2022-09-09 |
| 发明(设计)人: | 祝天宇;朱娟;赵丹丹;万全寿;薛诚;李征 | 申请(专利权)人: | 北京林电伟业电子技术有限公司 |
| 主分类号: | G01K13/00 | 分类号: | G01K13/00;C12M1/38;C12M1/34;C12M1/02 |
| 代理公司: | 北京千慕专利代理事务所(普通合伙) 16032 | 代理人: | 管育进 |
| 地址: | 100097 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 用于 恒温 快速 核酸 扩增 检测 分析 多温区 校准 方法 | ||
1.一种用于恒温快速核酸扩增检测分析仪的多温区校准方法,其特征在于,包括以下步骤:
根据加热区域,将恒温快速核酸扩增检测分析仪分为上温区、中温区、下温区,其中,所述上温区、所述中温区、所述下温区处于同一空间内;
将所述上温区、所述中温区、所述下温区的温度设置为同一第一初始温度;
设置所述上温区的第一目标温度、所述中温区的第二目标温度、所述下温区的第三目标温度,以及,所述上温区、所述中温区、所述下温区的同一采样间隔时间;
基于所述采样间隔时间,在紧密接触所述恒温快速核酸扩增检测分析仪的侧壁的情况下,同时获取所述上温区基于所述第一初始温度至所述第一目标温度的第一升温速率、所述中温区基于所述第一初始温度至所述第二目标温度的第二升温速率、所述下温区基于所述第一初始温度至所述第三目标温度的第三升温速率;
基于所述第一升温速率、所述第二升温速率、所述第三升温速率,对所述恒温快速核酸扩增检测分析仪进行温场评估。
2.根据权利要求1所述一种用于恒温快速核酸扩增检测分析仪的多温区校准方法,其特征在于:
在设置第一初始温度的过程中,将所述上温区、所述中温区、所述下温区加热至所述第一初始温度后,保持所述第一初始温度至第一持续时间;
基于所述第一持续时间,获取所述第一初始温度的第一稳定情况,其中,若所述第一稳定情况为不稳定时,则评估所述恒温快速核酸扩增检测分析仪为不合格,若所述第一稳定情况为稳定时,则将所述第一初始温度分别加热至所述第一目标温度、所述第二目标温度、所述第三目标温度,基于所述采样间隔时间,分别获取所述第一升温速率、所述第二升温速率、所述第三升温速率。
3.根据权利要求2所述一种用于恒温快速核酸扩增检测分析仪的多温区校准方法,其特征在于:
在将所述第一初始温度分别加热至所述第一目标温度、所述第二目标温度、所述第三目标温度的过程中,根据设置的采样总时长,将所述第一初始温度分别加热至所述第一目标温度、所述第二目标温度、所述第三目标温度,并保持至第二持续时间;
基于所述第二持续时间,分别获取所述第一目标温度的第二稳定情况、所述第二目标温度的第三稳定情况、所述第三目标温度的第四稳定情况,其中,当所述第二稳定情况、所述第三稳定情况、所述第四稳定情况中任一一种情况为不稳定时,则评估所述恒温快速核酸扩增检测分析仪为不合格,当所述第二稳定情况和所述第三稳定情况和所述第四稳定情况为稳定时,则获取所述第一升温速率、所述第二升温速率、所述第三升温速率。
4.根据权利要求3所述一种用于恒温快速核酸扩增检测分析仪的多温区校准方法,其特征在于:
在设置采样总时长的过程中,根据所述采样总时长,获取所述采样间隔时间;
根据所述采样间隔时间,基于所述第一初始温度,获取所述第一初始温度上升到第一目标点温度的第一时间,以及所述第一目标点温度分别上升至所述第一目标温度的第二时间、所述第二目标温度的第三时间、所述第三目标温度的第四时间;
根据所述第二时间和所述第一时间的第一差值,以及所述第一目标温度与所述第一目标点温度的第二差值,获取所述第一升温速率;
根据所述第三时间和所述第一时间的第三差值,以及所述第二目标温度与所述第一目标点温度的第四差值,获取所述第二升温速率;
根据所述第四时间和所述第一时间的第五差值,以及所述第三目标温度与所述第一目标点温度的第六差值,获取所述第三升温速率。
5.根据权利要求4所述一种用于恒温快速核酸扩增检测分析仪的多温区校准方法,其特征在于:
在获取所述第一升温速率、所述第二升温速率、所述第三升温速率的过程中,所述第一升温速率、所述第二升温速率、所述第三升温速率同时满足的合格条件为:所述第一升温速率≥0.8℃/秒,和所述第二升温速率≥0.5℃/秒,和所述第三升温速度率≥0.5℃/秒,其中,当所述第一升温速率、所述第二升温速率、所述第三升温速度率中任一一个升温速率不满足所述合格条件,则评估所述恒温快速核酸扩增检测分析仪为不合格,否则,评估所述恒温快速核酸扩增检测分析仪为合格。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京林电伟业电子技术有限公司,未经北京林电伟业电子技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210958349.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





