[发明专利]基于粒子群优化的时间交织模数转换器的校准方法及装置在审
申请号: | 202210957219.5 | 申请日: | 2022-08-10 |
公开(公告)号: | CN115395955A | 公开(公告)日: | 2022-11-25 |
发明(设计)人: | 李登全;王隆盛;朱樟明;沈易;刘术彬 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H03M1/10 | 分类号: | H03M1/10;G06N3/00 |
代理公司: | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人: | 辛菲 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 粒子 优化 时间 交织 转换器 校准 方法 装置 | ||
本发明提供一种基于粒子群优化的时间交织模数转换器的校准方法及装置,该方法包括:获取迭代次数、上一代粒子群速度和上一代粒子群最优位置;接着,将上一代粒子群速度和上一代粒子群最优位置进行迭代计算,获得新迭代次数和新一代粒子群位置;在新迭代次数满足预设迭代次数时,根据上一代粒子群最优位置和新一代粒子群位置,确定全局最优位置,全局最优位置包括上一代粒子群最优位置和新一代粒子群位置中适应度值排序最大的位置信息;将全局最优位置作为TIADC的时钟偏差的大小和方向,通过微分器对TIADC进行时钟偏差的补偿。实现对对任何通道数的TIADC进行时钟校准。
技术领域
本发明涉及电子电路的时钟校准方法,具体为基于粒子群优化的时间交织模数转换器的校准方法及装置。
背景技术
时间交织模数转换器TIADC(Time-Interleaved Analog-to-digital Converter,简称TIADC)可以通过N个低速的子模数转换器(Analog to Digital Converter,简称ADC)的并行低速采样,实现高速串行采样。但是TIADC中各ADC的不同通道之间存在通道失配,因此校准各通道失配就显得必不可少,其中,通道失配又分为失调失配、增益失配和时钟失配,其中时钟失配和输入频率有关,因此时钟失配最难被校准。
现有技术通过自相关函数的方法探测各通道间的时钟偏差的大小和方向,并按照一定的顺序进行各通道间的校准。然而,本发明的发明人在采用自相关函数对TIADC进行时钟校准的过程发现,该方法只能校准2N通道数的TIADC,对需要时钟校准的TIADC有通道数的限制,从而导致无法对任意通道数的TIADC进行时钟校准。
发明内容
针对现有技术中存在的问题,本发明提供基于粒子群优化的时间交织模数转换器的校准方法及装置,实现对对任何通道数的TIADC进行时钟校准。
本发明是通过以下技术方案来实现:
一方面的,本发明一实施提供一种基于粒子群优化的时间交织模数转换器的校准方法,包括:
获取迭代次数、上一代粒子群速度和上一代粒子群最优位置,所述上一代粒子群速度包括上一次迭代计算获得的粒子群最优的更新方向,所述上一代粒子群最优位置包括上一次迭代计算获得的最优时钟信息,所述时钟信息包括在时间交织模数转换器TIADC的时钟偏差范围中的时钟信息,所述迭代次数包括从初始粒子群位置到所述上一代粒子群最优位置经过的迭代计算的次数;
将所述上一代粒子群速度和所述上一代粒子群最优位置进行迭代计算,获得新迭代次数和新一代粒子群位置;
在所述新迭代次数满足预设迭代次数时,根据所述上一代粒子群最优位置和所述新一代粒子群位置,确定全局最优位置,所述全局最优位置包括所述上一代粒子群最优位置和所述新一代粒子群位置中适应度值排序最大的位置信息;
将所述全局最优位置作为TIADC的时钟偏差的大小和方向,通过微分器对TIADC进行时钟偏差的补偿。
进一步的,所述将所述上一代粒子群速度和所述上一代粒子群最优位置进行迭代计算,获得新迭代次数和新一代粒子群位置,还包括:
获得新一代粒子群速度;
新一代粒子群速度=权重×上一代粒子群速度+c1×rand1×(上一代粒子群最优位置-新一代粒子群位置)+c2×rand2×(上一代粒子群最优位置-新一代粒子群位置),其中,所述c1为预设的第一学习因子,所述c2为预设的第二学习因子,所述rand1为第一随机数,所述rand2为第二随机数,所述上一代粒子群最优位置为所述上一代粒子群最优位置中适应度值最大的粒子对应的位置;
新一代粒子群位置为所述上一代粒子群位置与所述新一代粒子群速度之和。
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