[发明专利]一种接续式光纤大变形测试装置及测试方法

权利要求书

1.一种接续式光纤大变形测试装置，其特征在于，包括第一测量段光纤、第二测量段光纤、接续段光纤和接续装置，所述接续装置包括护筒、封闭盖和连接件，所述护筒内设有空腔且两端开口，所述护筒的两端或靠近两端处分别设置封闭盖，所述连接件、所述接续段光纤位于所述空腔内，且所述连接件、所述接续段光纤的两端分别连接所述护筒两端的封闭盖内侧，所述接续段光纤长度大于所述连接件长度，所述接续段光纤在所述空腔内弯曲设置，所述第一测量段光纤和所述第二测量段光纤的内端分别连接至所述护筒两端的封闭盖外侧，所述第一测量段光纤和所述第二测量段光纤的外端用于固定至待测结构；所述连接件的抗拉强度小于所述第一测量段光纤、所述第二测量段光纤的抗拉强度，所述连接件设置有若干根，所述连接件为非弹性材质结构件；

所述接续段光纤的长度满足：

l_z＜l_q＜l_z+0.8ε_有效（l₁+l₂）

其中，l_q为接续装置内部接续段光纤长度，l_z为两个封闭盖之间的间距，l₁为第一测量段光纤的初始距离，l₂为第二测量段光纤的初始距离，ε_有效为光纤断裂前测量的有效应变。

2.根据权利要求1所述的接续式光纤大变形测试装置，其特征在于，还包括连接段光纤，所述第一测量段光纤和所述第二测量段光纤的外端分别与连接段光纤连接。

3.根据权利要求2所述的接续式光纤大变形测试装置，其特征在于，所述连接段光纤、第一测量段光纤、接续段光纤和第二测量段光纤分别为同一根光纤上的不同段，所述光纤上与待测结构的固定处分别形成光纤固定端A和光纤固定端B。

4.根据权利要求1-3任一所述的接续式光纤大变形测试装置，其特征在于，还包括装置保护壳，所述接续装置、所述第一测量段光纤和所述第二测量段光纤置于所述装置保护壳内。

5.一种接续式光纤大变形测试装置的安装方法，采用权利要求4所述的接续式光纤大变形测试装置，其特征在于，包括以下步骤：

A1、先将两个光纤夹持装置固定在待测结构上，通过一个光纤夹持装置固定光纤的一端形成光纤固定端A，并将光纤固定端A作为第一测量段光纤的起始端，顺着光纤布置方向，定位第一测量段光纤的末端，光纤穿过封闭盖后将第一测量段光纤的末端与接续装置第一端的封闭盖固定；

A2、将第一测量段光纤的末端作为接续段光纤的起始端，在接续装置内放置接续段光纤，定位接续段光纤的末端，光纤穿过另一封闭盖后将接续段光纤的末端与接续装置第二端的封闭盖固定；

A3、以接续装置第二端的封闭盖外端为第二测量段光纤的起始端，顺着光纤布置方向，定位第二测量段光纤的末端，并通过另一个光纤夹持装置固定第二测量段光纤的末端，形成光纤固定端B，最后设置装置保护壳将第一测量段光纤、接续装置和第二测量段光纤保护在其中。