[发明专利]一种ONU突发发光检测数据处理方法及相关设备在审

专利信息
申请号: 202210940535.1 申请日: 2022-11-16
公开(公告)号: CN115633275A 公开(公告)日: 2023-01-20
发明(设计)人: 郑海江;陈哲;高泉川;黄秋伟 申请(专利权)人: 厦门优迅高速芯片有限公司
主分类号: H04Q11/00 分类号: H04Q11/00;H04B10/079
代理公司: 北京科家知识产权代理事务所(普通合伙) 11427 代理人: 庄吴敏
地址: 361008 福建省*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 onu 突发 发光 检测 数据处理 方法 相关 设备
【说明书】:

发明提出的ONU突发发光检测数据处理方法和相关设备,通过漏光测试数据处理步骤,获取目标光网络单元ONU的漏光测试数据,并进行验证,得到第一计算结果;时序测试处理步骤,在预设时序范围内,进行针对Ton时序、TX_SD时序和PaER稳定时间测试,并进行验证计算,得到第二计算结果;评价步骤,根据第一计算结果和第二计算结果,判断ONU突发发光检测结果。以及,配合ONU突发发光检测电路。不仅能够全面的覆盖导致ONU突发发光的检测情况,并能够提供测试系统校准,从而达到可靠的检测效果。

技术领域

本发明涉及光模块测试技术,特别涉及一种ONU突发发光检测数据处理方法及相关设备。

背景技术

ONU(光网络单元)是GEPON(千兆以太网无源光网络)系统的用户端设备,OLT(光线路终端)是局端设备,ONU与OLT通过PON(无源光纤网络)技术传输业务。ONU与OLT合作,可以向联网用户提供各种宽带服务。例如上网、网络电话、高清电视、视频会议等。

OLT到ONU的数据传输(简称下行)是广播的方式,因此ONU的接收处于连续模式;而ONU到OLT的数据传输采用时分复用技术(TDMA),因此ONU的发射是突发模式。

目前,多数ONU盒子厂商、ONU光模块厂商并没有一套完整的测试ONU突发发光的方法。有的只能测试部分项目或对某些重要项目忽略不测;有的由于测试方法不当导致数据不准确。

发明内容

本发明的目的在于,通过本发明ONU突发发光检测数据处理方法,不仅能够全面的覆盖导致ONU突发发光的检测情况,并能够提供测试系统校准,从而达到可靠的检测效果。

一种ONU突发发光检测数据处理方法,包括如下步骤:

漏光测试数据处理步骤,获取目标光网络单元ONU的漏光测试数据,并进行验证,得到第一计算结果;

时序测试处理步骤,在预设时序范围内,进行针对Ton时序、TX_SD时序和PaER稳定时间测试,并进行验证计算,得到第二计算结果;

评价步骤,根据第一计算结果和第二计算结果,判断ONU突发发光检测结果。

优选地,所述漏光测试数据处理步骤具体实现为:

获取驱动芯片普通设置下的漏光数据;所述普通设置包括:上电、掉电、突发使能信号开启、供电电压拉偏。

突发使能信号BEN不同电平情况下的漏光数据;BEN不同电平情况包括:高电平使能、低电平使能及关断情况;

以及,

当ONU的驱动芯片TX的寄存器在多种工作参数设定时的漏光数据。

优选地,针对Ton时序测试步骤中,通过在常温下增大偏置电流和调制电流,以模拟高温下Ton时序测试。

优选地,针对Ton时序测试步骤中,还包括:对BEN信号与光信号的光电延时校准。

优选地,针对TX_SD时序测试步骤中,具体实现为:调节ONU的光功率,及光模块模式切换,并改变的TX SERDES信号的码型,以获取TX_SD时序测试数据。

优选地,调节ONU的光功率具体实现为:

调节ONU的光功率,测试TX_SD信号与BEN信号的延时;

调小光功率,同步减小MOD电流,保证BIAS为闭环状态,测试MD电流在下限时对应的TX_SD时序;

增大光功率,使光功率达到指标的上限,测试TX_SD时序。

优选地,PaER稳定时间测试具体实现为:

断开ONU中BEN信号与MAC的连接,所述BEN信号引出由函数信号发生器控制;

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