[发明专利]一种ONU突发发光检测数据处理方法及相关设备

权利要求书

1.一种ONU突发发光检测数据处理方法，其特征在于，包括如下步骤：

漏光测试数据处理步骤，获取目标光网络单元ONU的漏光测试数据，并进行验证，得到第一计算结果；

时序测试处理步骤，在预设时序范围内，进行针对Ton时序、TX_SD时序和PaER稳定时间测试，并进行验证计算，得到第二计算结果；

评价步骤，根据第一计算结果和第二计算结果，判断ONU突发发光检测结果。

2.根据权利要求1所述的ONU突发发光检测数据处理方法，其特征在于，所述漏光测试数据处理步骤具体实现为：

获取驱动芯片普通设置下的漏光数据；所述普通设置包括：上电、掉电、突发使能信号开启、供电电压拉偏。

突发使能信号BEN不同电平情况下的漏光数据；BEN不同电平情况包括：高电平使能、低电平使能及关断情况；

以及，

当ONU的驱动芯片TX的寄存器在多种工作参数设定时的漏光数据。

3.根据权利要求1所述的ONU突发发光检测数据处理方法，其特征在于，针对Ton时序测试步骤中，通过在常温下增大偏置电流和调制电流，以模拟高温下Ton时序测试。

4.根据权利要求1或3所述的ONU突发发光检测数据处理方法，其特征在于，针对Ton时序测试步骤中，还包括：对BEN信号与光信号的光电延时校准。

5.根据权利要求1所述的ONU突发发光检测数据处理方法，其特征在于，针对TX_SD时序测试步骤中，具体实现为：调节ONU的光功率，及光模块模式切换，并改变的TX SERDES信号的码型，以获取TX_SD时序测试数据。

6.根据权利要求5所述的ONU突发发光检测数据处理方法，其特征在于，调节ONU的光功率具体实现为：

调节ONU的光功率，测试TX_SD信号与BEN信号的延时；

调小光功率，同步减小MOD电流，保证BIAS为闭环状态，测试MD电流在下限时对应的TX_SD时序；

增大光功率，使光功率达到指标的上限，测试TX_SD时序。

7.根据权利要求2所述的ONU突发发光检测数据处理方法，其特征在于，PaER稳定时间测试具体实现为：

断开ONU中BEN信号与MAC的连接，所述BEN信号引出由函数信号发生器控制；

设置函数信号器发生器的BEN信号的周期和占空比，以缩短第一次发光与第二次发光，及之后发光包之间的间隔时间

将输出光信号接入实时示波器，查看TX输出光信号的实时波形及变化趋势。

8.一种ONU突发发光检测数据处理电路，其特征在于，包括：

ONU突发发光检测的驱动芯片的第一管脚连接第一磁珠；

ONU突发发光检测的驱动芯片的第二管脚连接第二磁珠；

第一磁珠和第二磁珠连接到激光器两端。

9.如权利要求8所述ONU突发发光检测数据处理电路，其特征在于，包括：

所述第一管脚为BIAS+端，所述第二管脚为BIAS-端；

所述BIAS+端连接到激光器正极；

所述第一磁珠及所述第二磁珠可以选择串联磁珠实现。

10.一种计算设备，其特征在于，至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行如权利要求1-7中任一项所述的方法。