[发明专利]物品检查装置

说明书

本发明提供一种物品检查装置，其在混入有不特定的异物时，能够灵敏且稳定地检测光谱的变化，并且将其设为次品。物品检查装置具备：输送部，将检查用片剂输送至物品检查位置；光照射部，对输送至物品检查位置的片剂照射光；光检测部，检测透射了片剂的光；及物品检查部，根据光检测部检测到的光的分光特性检查片剂的品质，物品检查部对光检测部检测到的光的光谱的每个波长的测定值进行标准化，并根据标准化的值进行片剂是正常品还是次品的判断。

技术领域

本发明涉及一走物品检查装置。

背景技术

专利文献1中记载有片剂检查装置，其从光源对片剂照射光，并且按照从片剂透射的透射光的分光特性检查片剂的好坏。

专利文献1：日本特开2020-60536号公报

如此，当根据物品的透射光或反射光的分光特性进行物品的检查时，例如，在NIR(Near-InfraRed：近红外光谱)的分析中，根据分光信息进行吸光度计算、平滑处理及微分处理等光谱的转换处理，并且利用特定峰值的大小或进行了通过机器学习等制作标准曲线的计算处理的结果等进行是正常品还是次品的判断。

然而，还存在不知特定峰值是否为为了检测异常而最佳的峰值或当混入有异物时根据该峰值无法检测是次品的可能性。

在使用了标准曲线的处理中，能够对检测特定物进行特殊化，但关于除此以外，存在无法保证检测能力这一问题。

发明内容

因此，本发明目的在于提供一种在混入有不特定的异物时，灵敏且稳定地检测光谱的变化并且能够将其设为次品的物品检查装置。

本发明的第1方式的物品检查装置具备：输送部，将检查用物品输送至物品检查位置；光照射部，对输送至所述物品检查位置的所述物品照射光；光检测部，检测透射或反射了所述物品的光；及物品检查部，根据所述光检测部检测到的分光特性检查所述物品的品质，所述物品检查装置中，所述物品检查部对所述光检测部检测到的光的光谱的每个波长的测定值进行标准化，并根据标准化的值进行所述物品是正常品还是次品的判断。

根据该结构，测定到的光谱的每个波长的测定值得到标准化，并根据得到标准化的值进行是正常品还是次品的判断。因此，在混入有不特定的异物时，能够灵敏且稳定地检测光谱的变化并且将其设为次品。

并且，本发明的第2方式的物品检查装置在本发明的第1方式的物品检查装置中，所述物品检查部计算所述光检测部检测到的光的光谱的每个波长的测定值的统计值，并根据所述统计值对每个波长的测定值进行标准化。

根据该结构，计算出光检测部检测到的光的分光特性的光谱的每个波长的测定值的统计值，并根据统计值，每个波长的测定值得到标准化。因此，在混入有不特定的异物时，能够灵敏且稳定地检测光谱的变化并且将其设为次品。

并且，本发明的第3方式的物品检查装置在本发明的第1方式的物品检查装置中，所述物品检查部根据相对于所述标准化的值的阈值，进行所述物品是正常品还是次品的判断。

根据该结构，根据相对于标准化的值的阈值，进行物品是正常品还是次品的判断。因此，能够轻松地进行物品是正常品还是次品的判断。

并且，本发明的第4方式的物品检查装置在本发明的第2方式的物品检查装置中，所述物品检查部根据相对于所述标准化的值的阈值，进行所述物品是正常品还是次品的判断。

根据该结构，根据相对于标准化的值的阈值，进行物品是正常品还是次品的判断。因此，能够轻松地进行物品是正常品还是次品的判断。

并且，本发明的第5方式的物品检查装置在本发明的第3方式的物品检查装置中，所述物品检查部作为相对于所述标准化的值的阈值，设置将所述标准化的值判定为正常的上限值即上限阈值及将所述标准化的值判定为正常的下限值即下限阈值。