[发明专利]用于复合零件的超声波检验的方法和设备以及计算机程序

权利要求书

1.一种用于复合零件的超声波检验的方法，包括以下步骤：

提供待检验的复合零件(10)，所述复合零件(10)包括多个层(11)；

确定穿过待检验的复合零件传播的超声波信号(15)的运行时间和/或衰减；

提供穿过参考复合零件传播的所述超声波信号(15)的运行时间和/或衰减；

从所述超声波信号(15)在待检验的复合零件(10)中的运行时间和/或衰减中减去所述超声波信号(15)在所述参考复合零件中的运行时间和/或衰减，或者反过来进行减去；

从减去处理的结果确定所检验的复合零件(10)中的一个或多个缺失的层和/或附加的层。

2.根据权利要求1所述的方法，还包括步骤：在图像中可视化所述超声波信号(15)在所检验的复合零件(10)中的运行时间和/或衰减相对于所述参考复合零件的差异，并且/或者在图像中可视化所述复合零件(10)和所述参考零件之间的厚度的差异。

3.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中生成所检验的复合零件(10)的图像，所述图像指示不同坐标的颜色值，所述颜色值代表所述超声波信号(15)在所检验的复合零件(10)中的衰减和/或运行时间与所述参考复合零件相比较的偏差。

4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中将所述参考零件的图像中的坐标的像素值与所检验的零件(10)的图像(16，26)中的相同坐标的像素值进行比较，并且/或者将所述参考零件的图像中的坐标的像素值从所检验的零件(10)的图像(16，26)中的相同坐标的像素值中减去，所述像素值表示所述超声波信号(15)在相应的所述零件中的衰减和/或运行时间。

5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中针对所检验的复合零件(10)确定的运行时间和/或衰减被提供为参考数据，以用于检验一个或多个另外的复合零件。

6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中用所述超声波信号(15)扫描待检验的复合零件(10)，并将所确定的运行时间和/或衰减存储为二维矩阵，以用于减去步骤。

7.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中确定所检验的复合零件(10)和所述参考零件之间的厚度的差异。

8.根据权利要求7所述的方法，其中将所检验的零件(10)和所述参考零件之间的厚度的差异与所检验的复合零件(10)的层(11)的厚度进行比较，以检测缺失的层或附加的层。

9.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中根据所检验的复合零件(10)的所述超声波信号(15)的运行时间和/或衰减与所述参考复合零件相比较的偏差确定二维图案，以识别缺失的层或附加的层的区域(17，27)和/或质量降低的区域。

10.一种用于复合零件的超声波检验的设备，所述设备包括：

超声波系统(14)，所述超声波系统(14)被设计用于确定穿过待检验的复合零件(10)传播的超声波信号(15)的运行时间和/或衰减；和

计算机单元(20)，所述计算机单元(20)被设计用于：从针对待检验的复合零件(10)确定的超声波信号(15)的运行时间和/或衰减中减去穿过参考复合零件传播的所述超声波信号(15)的运行时间和/或衰减，或者反过来进行减去；并且根据减去处理的结果，确定所检验的复合零件(10)中的一个或多个缺失的层和/或附加的层。

11.根据权利要求10所述的设备，还包括显示装置(30)，所述显示装置(30)用于指示所检验的复合零件(10)的其中通过所述减去确定所检验的复合零件(10)的缺失的层和/或附加的层的区域(17，27)和/或确定所检验的复合零件(10)的内部质量的偏差的区域。

12.根据权利要求10或11所述的设备，其特征在于，所述设备被设计用于执行根据权利要求1至9中任一项所述的方法。