[发明专利]一种基于能谱分析消除基体元素干扰的方法

权利要求书

1.一种基于能谱分析消除基体元素干扰的方法，其特征在于：令基体元素为A、待测元素为B、标样编号i＝1,2,3,4,5,6,……；

包括以下步骤：

第一步：测量基体元素A的系列标准溶液，同时记录每一次测量时基体元素A的峰面积或峰高S_i(A)以及待测元素B的峰面积或峰高S_i(B)；

第二步：根据第一步的测量结果建立S_i(A)与S_i(B)的关系式；

第三步：测量待测元素B的系列标准溶液，浓度依次为C_i(B)；同时记录每一次测量时待测元素B的峰面积或峰高S_i(B)¹以及基体元素A的峰面积或峰高S_i(A)¹；

第四步：用第三步测得S_i(A)¹代入S_i(A)与S_i(B)关系式中的S_i(A)，同时用S_i(B)¹减去S_i(A)与S_i(B)关系式中的S_i(B)，得ΔS_i(B)；

ΔS_i(B)为待测元素B扣除本底后的峰面积或峰高；

第五步：由第三步的C_i(B)与第四步的ΔS_i(B)建立数学关系，即为消除基体元素A干扰后的、待测元素B的最终工作曲线。

2.如权利要求1所述的一种基于能谱分析消除基体元素干扰的方法，其特征在于：第二步中，S_i(A)与S_i(B)的关系式为：

S_i(B)＝k*S_i(A)+b，

k、b为拟合常数。

3.如权利要求2所述的一种基于能谱分析消除基体元素干扰的方法，其特征在于：第四步中，ΔS_i(B)＝S_i(B)¹-S_i(B)＝S_i(B)¹-k*S_i(A)¹-b。

4.如权利要求3所述的一种基于能谱分析消除基体元素干扰的方法，其特征在于：第五步中，C_i(B)与ΔS_i(B)的数学关系为：

C_i(B)＝k1*ΔS_i(B)+b1，k1、b1为拟合常数；

展开得：

C_i(B)＝k1*[S_i(B)¹-k*S_i(A)¹-b]+b1

即为消除基体元素A干扰后的、待测元素B的最终工作曲线。

5.如权利要求1～4任一项所述的一种基于能谱分析消除基体元素干扰的方法，其特征在于：适用于测量目标要素受其他要素影响的情况。

6.如权利要求5所述的一种基于能谱分析消除基体元素干扰的方法，其特征在于：适用于X荧光法测量含钚料液中少量锆元素时钚基体对锆元素的影响、分光光度法测量钚价态时四价对六价的影响。