[发明专利]拼接式CT成像装置、成像改善方法及其设备

权利要求书

1.拼接式CT成像装置，其特征在于，包括：平板探测器和弧形探测器，所述平板探测器和弧形探测器拼接。

2.成像改善方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：利用如权利要求1所述的拼接式CT成像装置进行图像采集，平板探测器和弧形探测器对同一部位成像，通过所述平板探测器和弧形探测器分别得到第一图像和第二图像；

S2：利用图像插值算法对第一图像进行处理，形成第三图像，第三图像的尺寸大小与第二图像的尺寸大小一致；

S3：将第三图像与第二图像进行直方图匹配，利用第二图像的灰度分布改善第三图像的灰度分布，得到改善后的第四图像；

S4：利用图像插值算法对第四图像进行处理，形成第五图像，第五图像的尺寸大小与第一图像的尺寸大小一致；

S5：输出第五图像。

3.根据权利要求1所述的成像改善方法，其特征在于，S3具体包括以下步骤：

S3.1：分别计算第三图像的灰度级的累计概率直方图和第二图像的灰度级的累计概率直方图

其中，i为图像的灰度值；

Pi为每个灰度值在整个图像中的概率；

Wi为每个灰度值在整个图像中的概率；

S3.2：计算第三图像各个灰度级累计概率到第二图像各个灰度级累计概率的绝对值差异d＝|X_m-Y_n|；

其中，m和n分别为第三图像和第二图像累计概率中最大的灰度级的值；

S3.3：将S3.2获得的最小差异d对应的第二图像的灰度值作为第三图像到第二图像的映射值，并生成映射关系；

S3.4：按照映射关系将第三图像各处的像素值修改为对应的像素值，得到改善后的第四图像。

4.根据权利要求2或3所述的成像改善方法，其特征在于，S1中，所述平板探测器和弧形探测器同时对同一部位成像。

5.根据权利要求2或3所述的成像改善方法，其特征在于，图像插值算法为最近邻插值算法、双线性插值算法、三线性插值算法中的一种或多种。

6.成像改善设备，其特征在于，包括：

如权利要求1所述的拼接式CT成像装置，所述拼接式CT成像装置的平板探测器和弧形探测器用于对同一部位成像，通过所述平板探测器和弧形探测器分别得到第一图像和第二图像；

第一图像处理装置，所述第一图像处理装置用于利用图像插值算法对第一图像进行处理，形成第三图像，第三图像的尺寸大小与第二图像的尺寸大小一致；

匹配装置，所述匹配装置用于将第三图像与第二图像进行直方图匹配，利用第二图像的灰度分布改善第三图像的灰度分布，得到改善后的第四图像；

第二图像处理装置，所述第二图像处理装置用于利用图像插值算法对第四图像进行处理，形成第五图像，第五图像的尺寸大小与第一图像的尺寸大小一致；

输出装置，所述输出装置用于输出第五图像。

7.根据权利要求6所述的成像改善设备，其特征在于，所述匹配装置包括：

累计概率直方图计算模块，所述累计概率直方图计算模块用于分别计算第三图像的灰度级的累计概率直方图和第二图像的灰度级的累计概率直方图

其中，i为图像的灰度值；

Pi为每个灰度值在整个图像中的概率；

Wi为每个灰度值在整个图像中的概率；

绝对值差异计算模块，所述绝对值差异计算模块用于计算第三图像各个灰度级累计概率到第二图像各个灰度级累计概率的绝对值差异d＝|X_m-Y_n|；

其中，m和n分别为第三图像和第二图像累计概率中最大的灰度级的值；

映射处理模块，所述映射处理模块用于将所述绝对值差异计算模块计算获得的最小差异d对应的第二图像的灰度值作为第三图像到第二图像的映射值，并生成映射关系，按照映射关系将第三图像各处的像素值修改为对应的像素值，得到改善后的第四图像。

8.根据权利要求6或7所述的成像改善方法，其特征在于，所述拼接式CT成像装置中，所述平板探测器和弧形探测器同时对同一部位成像。

9.根据权利要求6或7所述的成像改善方法，其特征在于，图像插值算法为最近邻插值算法、双线性插值算法、三线性插值算法中的一种或多种。