[发明专利]图像校正方法、装置及电子设备

说明书

本申请提供了图像校正方法、装置及电子设备。由以上技术方案可以看出，本申请中，先利用标准模体计算出探测器的探测单元偏移校正参数向量（该向量可通过像素偏移校正参数表表示），之后在实际被测物（记为目标物）安检时，根据上述探测单元偏移校正参数向量（比如像素偏移校正参数表），对目标物图像进行偏移校正，能够消除安检设备比如高速安检机等因探测器中探测单元的安装偏差带来的图像错层现象。

技术领域

本申请涉及安检技术领域和图像处理技术，特别涉及图像校正方法、装置及电子设备。

背景技术

目前，安检设备比如X射线安检机等大都使用线阵探测器作为探测器，通过物体和探测器之间的相对移动，实现线扫描成像。

理想情况下，安检设备中探测器的各探测单元应位于同一条直线上，但在实际使用过程中，由于生产、加工、安装误差等因素，会导致探测器中探测单元的实际位置与理想位置发生偏移。而探测器中探测单元的实际位置与理想位置之间的偏移，会导致扫描图像对应位置出现错层现象，这种错层现象在高速安检机成像中尤为明显。例如探测器的第k个探测单元和第k+1个探测单元存在距离为s的位置偏差，那么对应图像的第k行和第k+1行的数据会发生错层现象。

发明内容

本申请提供了图像校正方法、装置及电子设备，以消除图像数据之间的错层现象。

本申请实施例提供了一种图像校正方法，该方法应用于安检设备；所述安检设备被部署了射线源和探测器，所述探测器由N个探测单元组成，N大于1；该方法包括：

获得标准图像数据；所述标准图像数据是检测通道上存在标准模体时通过所述射线源和所述探测器对所述标准模体扫描成像得到的，所述标准图像数据用于表征扫描信号经由所述标准模体后的衰减程度，所述标准图像数据通过N*M的二维矩阵表示，所述标准图像数据中的不同行关联所述探测器中不同的探测单元；

依据标准图像数据中相邻行中的数据，确定探测单元偏移校正参数向量；所述探测单元偏移校正参数向量中第i个分量表示所述探测器中第i个探测单元相对被指定的基准探测单元的位置偏差；i大于或等于1、且i小于或等于N；

针对原始图像数据中第k行数据，依据所述探测单元偏移校正参数向量中与所述第k行数据对应的分量对所述第k行数据进行偏移校正并输出校正后的校正图像数据；所述原始图像数据是检测通道上存在目标物时通过所述射线源和所述探测器对所述目标物扫描成像得到的，所述原始图像数据用于表征扫描信号经由所述目标物后的衰减程度，所述原始图像数据通过N*F的二维矩阵表示，所述原始图像数据中不同行关联所述探测器中不同的探测单元。

本申请实施例提供一种图像校正装置，该装置应用于安检设备；所述安检设备被部署了射线源和探测器，所述探测器由N个探测单元组成，N大于1；该装置包括：

获得单元，用于获得标准图像数据；所述标准图像数据是检测通道上存在标准模体时通过所述射线源和所述探测器对所述标准模体扫描成像得到的，所述标准图像数据用于表征扫描信号经由所述标准模体后的衰减程度，所述标准图像数据通过N*M的二维矩阵表示，所述标准图像数据中的不同行关联所述探测器中不同的探测单元；

确定单元，用于依据标准图像数据中相邻行中的数据，确定探测单元偏移校正参数向量；所述探测单元偏移校正参数向量中第i个分量表示所述探测器中第i个探测单元相对被指定的基准探测单元的位置偏差；i大于或等于1、且i小于或等于N；

校正单元，用于针对原始图像数据中第k行数据，依据所述探测单元偏移校正参数向量中与所述第k行数据对应的分量 对所述第k行数据进行偏移校正并输出校正后的校正图像数据；所述原始图像数据是检测通道上存在目标物时通过所述射线源和所述探测器对所述目标物扫描成像得到的，所述原始图像数据用于表征扫描信号经由所述目标物后的衰减程度，所述原始图像数据通过N*F的二维矩阵表示，所述原始图像数据中不同行关联所述探测器中不同的探测单元。