[发明专利]一种X射线单点成像系统

权利要求书

1.一种X射线单点成像系统，其特征在于，所述X射线单点成像系统包括X射线源、平移滑台、X射线探测器、数据采集模块、控制及成像模块以及图像处理模块，其中，

所述平移滑台，位于所述X射线源下方，与所述X射线探测器、控制及成像模块相连，用于放置待测样品，所述待测样品在所述X射线源下方沿X/Y轴方向平移；

所述数据采集模块，与所述X射线探测器、所述控制及成像模块连接，用于采集所述X射线探测器所显示的数据，并将所述数据发送给所述控制及成像模块；

所述控制及成像模块，位于电脑终端，与所述平移滑台、所述数据采集模块相连，用于设置所述平移滑台移动参数，以及接收保存所述数据采集模块所发送的单点图像数据，结合XY轴位置，保存单点图像数据，所述控制及成像模块根据设置的所述平移滑台移动参数自动发出指令至所述平移滑台改变所述待测样品位置，重复多次操作得到单点图像数据矩阵，绘制完整的所述待测样品图像；

所述图像处理模块，用于对所述待测样品图像进行优化处理，包括列间均一化和行间均一化，即对图像竖向条纹及横向不均匀的消除；

所述图像处理模块进行列间均一化，通过矩阵每一列均值与整体列的差值作为标准，再将每列每个数据加上对应列的差值，得到更为均匀的矩阵，通过列间均一化处理，消除图像竖向条纹；

所述图像处理模块再进行行间均一化，通过对每一列数据进行直线拟合，得到拟合矩阵，将拟合矩阵每列每个拟合点与原矩阵对应列求差，得到差值矩阵，再将差值矩阵的每列每个数据加上原矩阵对应列的均值，得到行间均一化矩阵。

2.根据权利要求1所述的X射线单点成像系统，其特征在于，所述平移滑台包括XY两轴滑台及样品夹具，所述样品夹具用于固定所述待测样品，所述平移滑台通过步进电机提供动力。

3.根据权利要求2所述的X射线单点成像系统，其特征在于，所述平移滑台还设有XY两轴极限位置的限位开关，所述限位开关用于防止平移滑台因操控不当运行到额定范围外。

4.根据权利要求1所述的X射线单点成像系统，其特征在于，所述数据采集模块对所采集的数据进行预处理，所述预处理包括筛选异常值，所述筛选异常值具体为，将最近多个数据的相邻数之间进行两两相减并求均值，得到差分均值作为稳定性判断，当差分均值大于设置的阈值则判定为不稳定，过滤掉当前数据。

5.根据权利要求1所述的X射线单点成像系统，其特征在于，所述控制及成像模块与所述平移滑台、所述数据采集模块通过串口连接并交换数据。

6.根据权利要求1所述的X射线单点成像系统，其特征在于，所述控制及成像模块，包括设置单元、指令控制单元、存储单元以及图像成像单元，其中，

所述设置单元，用于在样品成像前在所述终端上设置参数，包括所述平移滑台的移动步长、移动速度和移动方向， X轴Y轴扫描步数，数据采集模块采集数据间隔时间、数据保存位置；

所述指令控制单元，用于在获得单点图像数据后，根据对所述平移滑台所设置的参数，自动将信号指令发至所述平移滑台，按照所述参数移动改变所述待测样品的位置；

所述存储单元，用于存储所有单点图像数据矩阵，所述数据矩阵格式是txt或xls文件；

所述图像成像单元，用于调出所述存储单元中的单点图像数据矩阵，绘制完整的所述待测样品图像。

7.根据权利要求6所述的X射线单点成像系统，其特征还在于，所述设置单元设置待测样品在所述平移滑台X/Y轴移动的上下限，根据所述待测样品实际二维大小进行设置，减少无意义数据的采集。