[发明专利]一种条纹阴影定位的方法、装置、介质及设备在审
申请号: | 202210819787.9 | 申请日: | 2022-07-13 |
公开(公告)号: | CN115183698A | 公开(公告)日: | 2022-10-14 |
发明(设计)人: | 马子骥;石博;刘宏立;蒋志文;董湘龙 | 申请(专利权)人: | 湖南大学 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25 |
代理公司: | 长沙轩荣专利代理有限公司 43235 | 代理人: | 姚兴 |
地址: | 410000 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 条纹 阴影 定位 方法 装置 介质 设备 | ||
1.一种条纹阴影定位的方法,其特征在于,所述方法包括:
步骤1,在向测试对象投射正弦光栅条纹时,采集所述测试对象在水平方向和垂直方向上的正弦光栅条纹图像;
步骤2,根据所述水平方向上的正弦光栅条纹图像和所述垂直方向上的正弦光栅条纹图像,得到水平包裹相位和垂直包裹相位;
步骤3,根据所述水平包裹相位和垂直包裹相位,得到水平离散阴影区域和垂直离散阴影区域;
步骤4,将所述水平离散阴影区域和垂直离散阴影区域进行融合得到融合后的离散阴影区域;
步骤5,对所述融合后的离散阴影区域进行光强分类和排序,得到阴影阈值;
步骤6,利用所述阴影阈值对所述正弦光栅条纹图像进行条纹阴影定位,得到条纹阴影定位结果。
2.根据权利要求1所述的条纹阴影定位的方法,其特征在于,所述步骤2包括:
计算所述水平方向上的正弦光栅条纹图像的包裹相位,得到水平包裹相位;
计算所述垂直方向上的正弦光栅条纹图像的包裹相位,得到垂直包裹相位。
3.根据权利要求1所述的条纹阴影定位的方法,其特征在于,所述步骤3包括:
对所述水平包裹相位进行频率分析和逆向频率分析,得到水平离散阴影区域;
对所述垂直包裹相位进行频率分析和逆向频率分析,得到垂直离散阴影区域。
4.根据权利要求1所述的条纹阴影定位的方法,其特征在于,所述步骤4包括:
利用公式对所述水平离散阴影区域和垂直离散阴影区域进行融合,得到融合后的离散阴影区域,其中,(x,y)表示正弦光栅条纹图像中的任意像素点,SDH(x,y)表示水平离散阴影区域,SDV(x,y)表示垂直离散阴影区域,SDS(x,y)表示融合后的离散阴影区域。
5.根据权利要求1所述的条纹阴影定位的方法,其特征在于,在所述步骤5之前还包括:
向所述测试对象的表面投射灰度为0的图像,采集所述测试对象的灰度图像,所述测试对象的灰度图像为全黑图像;
向所述测试对象的表面投射灰度为255的图像,采集所述测试对象的灰度图像,所述测试对象的灰度图像为全白图像;
对所述全黑图像和所述全白图像进行差分,得到所述测试对象的背景图像。
6.根据权利要求5所述的条纹阴影定位的方法,其特征在于,所述步骤5包括:
将所述融合后的离散阴影区域映射至所述背景图像上,对所述测试对象的背景图像进行处理,得到离散阴影区域的光强值B'(x,y)为:
其中,B(x,y)表示背景图像的光强值;
将所述离散阴影区域的光强值B'(x,y)转化为光强向量V1×D,对所述光强向量V1×D进行分类和排序,得到:
V’1×D=Descend(V1×D)
其中,Descend()表示降序操作,V’1×D表示排序后的阴影光强分布向量;
选择V’1×D中最大的光强值作为阴影阈值Th。
7.根据权利要求5所述的条纹阴影定位的方法,其特征在于,在所述步骤6之后还包括:
利用所述阴影阈值Th,通过公式对所述背景图像进行处理得到连续阴影区域,其中,SC(x,y)表示测试对象的连续阴影区域;
通过公式对所述水平方向上的包裹相位和所述垂直方向上的包裹相位进行处理,将阴影区域的相位值赋0,正常区域的相位值不变,其中,f表示频率,φf表示频率f对应的包裹相位。
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