[发明专利]一种综合测试台自动校准方法在审
| 申请号： | 202210798349.9 | 申请日： | 2022-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN115164965A | 公开（公告）日： | 2022-10-11 |
| 发明（设计）人： | 高占勇;华一崑;程倩;杨晶津;杨佳东;刘继辉;李思源;安靖;马晓龙;罗勇;孔维熙;周美芬;王玉真;赵佳成;祁林;崔宇翔;王发勇;张艳林 | 申请（专利权）人： | 红云红河烟草（集团）有限责任公司 |
| 主分类号： | G01D18/00 | 分类号： | G01D18/00 |
| 代理公司： | 北京维澳专利代理有限公司 11252 | 代理人： | 王立民 |
| 地址： | 650231 云*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 综合测试 自动 校准 方法 | ||
1.一种综合测试台自动校准方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1、根据综合测试台校准单元，选取综合测试台校准单元标准器件；
S2、校准人员将步骤S1的校准标准器件放入相应的综合测试台校准单元进行检测，记录校准单元检测校准标准器件的显示值；
S3、将步骤S2得到的显示值与校准标准器件真值进行比较，得到校准单元的误差，然后校准人员根据校准标准器件真值，对综合测试台检测单元修正值T往上或往下进行调整；并将校准标准器件再次放入相应校准单元进行检测，记录校准单元检测校准标准器件的显示值，经过N次调整跟踪，得到N个校准单元调整量△T1、△T2、△T3......△TN、N个校准单元实际响应量△Tx1、△Tx2、△Tx3......△TxN；
S4、将步骤S3的所有数据均录入控制该综合测试台校准单元的控制器；
S5、控制器通过统计方法，剔除校准单元异常调整响应数据，并以校准单元剩余调整响应数据为样本，得到校准单元调整响应函数。
2.根据权利要求1所述的综合测试台自动校准方法，其特征在于，步骤S5的统计方法为线性回归统计方法中的一种。
3.根据权利要求1所述的综合测试台自动校准方法，其特征在于，在每次校准时均需要将步骤S3的数据录入控制器，以增加样本量，提高校准单元调整响应函数的测算准确度。
4.根据权利要求1所述的综合测试台自动校准方法，其特征在于，在步骤S5后，当校准人员将校准标准器件放入相应校准单元进行检测，记录校准单元检测校准标准器件的显示值，得到校准单元偏差为N，仅需将其录入该综合测试台校准单元的控制器后，控制器将根据校准单元调整响应函数自动推算出校准单元调整量△T并对该综合测试台校准单元的参数进行调整。
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