[发明专利]图像感测装置及其操作方法

说明书

本申请涉及图像感测装置及其操作方法。一种图像感测装置可以包括多个测试像素块和信号处理单元。测试像素块可以被同时加热到不同温度。信号处理单元可以根据测试像素块的温度读出暗电流，以按颜色提取像素信号。

技术领域

所公开的技术的各种实施方式总体涉及检测光以生成图像数据的图像感测装置和操作该图像感测装置的方法。

背景技术

图像感测装置可以使用与光反应的光敏半导体材料的性质来捕捉光学图像。由于诸如汽车、医疗、计算机、通信等行业已经得到发展，因此具有高性能的图像感测装置可以广泛地用于诸如物联网(IOT)、机器人、安全相机、医疗相机等的各种领域。

图像感测装置可以分为电荷耦合器件(CCD)型和互补金属氧化物半导体(CMOS)型。与CMOS型图像感测装置相比，CCD型图像感测装置可以具有相对高的图像质量。然而，CCD型图像感测装置可以具有相对大的尺寸和相对高的功耗。相反，与CCD型图像感测装置相比，CMOS图像感测装置可以具有相对小的尺寸和相对低的功耗。此外，因为CMOS型图像感测装置可以使用CMOS制造技术来制造，所以光学传感器和信号处理电路可以集成在单个芯片中，这允许图像感测装置具有更小的尺寸并且导致生产成本的降低。CMOS型图像感测装置已被开发用于包括移动装置的许多应用。

发明内容

根据所公开技术的示例实施方式，可以提供一种图像感测装置。所述图像感测装置可以包括第一有源测试块、第二有源测试块、第一光学黑测试块、第二光学黑测试块和信号处理单元。第一有源测试块可以包括多个第一有源像素和第一加热元件。第一有源像素可以产生对应于入射光的第一像素信号。第一加热元件可以为第一有源像素提供第一温度。第二有源测试块可以包括多个第二有源像素和第二加热元件。第二有源像素可以产生对应于入射光的第二像素信号。第二加热元件可以为第二有源像素提供高于所述第一温度的第二温度。第一光学黑测试块可以包括多个第一光学黑像素和第三加热元件。第一光学黑像素可以产生与入射光无关的第三像素信号。第三加热元件可以为第一光学黑像素提供第一温度。第二光学黑测试块可以包括多个第二光学黑像素和第四加热元件。第二光学黑像素可以产生与入射光无关的第四像素信号。第四加热元件可以为第二光学黑像素提供第二温度。信号处理单元可以处理第一像素信号至第四像素信号。

根据示例实施方式，可以提供一种图像感测装置。该图像感测装置可以包括多个测试像素块和信号处理单元。测试像素块可以被同时加热到不同温度。信号处理单元可以根据测试像素块的温度读出暗电流，以按颜色提取像素信号。

根据示例实施方式，可以提供一种操作图像感测装置的方法。在操作所述图像感测装置的方法中，可以将可包括有源像素和光学黑像素在内的像素阵列的温度增加到设定温度。可以一次加热多个测试像素块以向测试像素块提供高于设定温度的温度。可以从像素阵列和测试像素块提取按照温度的像素信号。可以使用像素信号来获得像素阵列的基底信息(pedestal information)。

附图说明

通过结合附图的以下详细描述，将更清楚地理解本公开的主题的上述和其它方面、特征和优点。

图1是示出根据所公开技术的示例实施方式的拍摄装置的框图。

图2是示出有源像素和光学黑像素的暗电流的曲线图。

图3是示出根据所公开技术的示例实施方式的像素阵列的框图。

图4A和图4B是示出图3中的有源测试块的视图。

图5A和图5B是示出图3中的光学测试块的视图。

图6是示出根据所公开技术的示例实施方式的操作图像感测装置的方法的流程图。

具体实施方式