[发明专利]一种电池采样线虚接的检测方法、系统、设备及存储介质

权利要求书

1.一种电池采样线虚接的检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取电池包中各个采样电芯在预设时间内的电流和第一电压差值；

将所述电流小于预设电流阈值，且所述第一电压差值大于或等于第一预设电压阈值的采样电芯确定为标记电芯，并获取标记电芯的位置；

基于所述标记电芯的位置，判断是否存在两个位置相邻的标记电芯；

若存在两个位置相邻的标记电芯，则判断两个位置相邻的标记电芯的第二电压差值是否小于或等于第二预设电压阈值；

若所述第二电压差值小于或等于第二预设电压阈值，则确定两个位置相邻的标记电芯之间的采样线为虚接点。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若不存在两个位置相邻的标记电芯，则判断当前标记电芯是否为电池包的第一个电芯或最后一个电芯；

若当前标记电芯为电池包的第一个电芯或最后一个电芯，则判断当前标记电芯所在电池采样芯片的供电线和电压采样线是否并联；

若当前标记电芯所在电池采样芯片的供电线和电压采样线未并联，则判断当前标记电芯的相邻位置是否连接有铜排；

若当前标记电芯的相邻位置未连接有铜排，则确定电池包的第一个电芯的负极采样线断线，并确定电池包的最后一个电芯的正极采样线为虚接点。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若当前标记电芯的相邻位置连接有铜排，则判断当前标记电芯是否为铜排负极采样线所在电芯；

若当前标记电芯为铜排负极采样线所在电芯，则判断当前标记电芯是否为电池采样芯片的第一个采样电芯；

若当前标记电芯为电池采样芯片的第一个采样电芯，则确定铜排负极采样线和所述当前标记电芯的负极采样线为虚接点。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若当前标记电芯不是电池采样芯片的第一个采样电芯，则确定铜排负极采样线为虚接点。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若当前标记电芯为铜排正极采样线所在电芯，则判断当前标记电芯是否为电池采样芯片的最后一个采样电芯；

若当前标记电芯是电池采样芯片的最后一个采样电芯，则确定铜排正极采样线和所述当前标记电芯的正极采样线为虚接点。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若当前标记电芯不是电池采样芯片的最后一个采样电芯，则确定铜排正极采样线为虚接点。

7.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取标记电芯和正常电芯的第三电压差值；

若所述第三电压差值小于第三预设电压阈值，则判断在电池包充电或放电时标记电芯的电压在设定时长内是否始终小于预设值；

若在电池包充电或放电时标记电芯的电压在设定时长内始终小于预设值，则对虚接点进行预警。

8.一种电池采样线虚接的检测系统，其特征在于，所述系统包括：

第一获取模块，用于获取电池包中各个采样电芯在预设时间内的电流和第一电压差值；

第二获取模块，用于将所述电流小于预设电流阈值，且所述第一电压差值大于或等于第一预设电压阈值的采样电芯确定为标记电芯，并获取标记电芯的位置；

第一判断模块，用于基于所述标记电芯的位置，判断是否存在两个位置相邻的标记电芯；

第二判断模块，用于若存在两个位置相邻的标记电芯，则判断两个位置相邻的标记电芯的第二电压差值是否小于或等于第二预设电压阈值；

确定模块，用于若所述第二电压差值小于或等于第二预设电压阈值，则确定两个位置相邻的标记电芯之间的采样线为虚接点。

9.一种计算机设备，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器和所述处理器之间互相通信连接，所述存储器中存储有计算机指令，所述处理器通过执行所述计算机指令，从而执行权利要求1-7中任一项所述的电池采样线虚接的检测方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使所述计算机执行权利要求1-7中任一项所述的电池采样线虚接的检测方法。