[发明专利]一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：

当待测芯片在目标阶段进行软件程序运行时，获取待测芯片对应的标准硬件描述树；

将标准硬件描述树读入软件程序，利用软件程序解析标准硬件描述树，生成运行时硬件描述树；

基于运行时硬件描述树中的基础寄存器地址对待测芯片进行目标阶段的测试。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法，还包括：

根据待测芯片所处的目标阶段，生成待测芯片对应的寄存器抽象层文件；

根据寄存器抽象层文件中的各标准寄存器描述信息生成待测芯片对应的标准硬件描述树。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据寄存器抽象层文件中的各标准寄存器描述信息生成待测芯片对应的标准硬件描述树，包括：

解析各寄存器抽象层文件，获取各标准寄存器描述信息；

将各标准寄存器描述信息格式转化为设定格式的寄存器描述信息；

将各设定格式的寄存器描述信息统一存储，生成标准硬件描述树。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用软件程序解析标准硬件描述树，生成运行时硬件描述树，包括：

基于目标阶段下待测芯片的子系统实现状态以及软件程序运行环境，对标准硬件描述树中的各子系统进行实例化，生成包含子系统实例的运行时硬件描述树。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于目标阶段下待测芯片的子系统实现状态以及软件程序运行环境，对标准硬件描述树中的各子系统进行实例化，生成运行时硬件描述树，包括：

根据软件程序运行环境标记待测芯片对应的芯片版本信息；

根据目标阶段下待测芯片的子系统实现状态，对标准硬件描述树中未完成功能实现的子系统进行裁剪；

将完成功能实现的各子系统的基地址同步至对应的寄存器，作为基础寄存器地址，生成运行时硬件描述树。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于运行时硬件描述树中的基础寄存器地址对待测芯片进行目标阶段的测试，包括：

在各运行时硬件描述树中获取与待测芯片的芯片版本信息一致的运行时硬件描述树，作为目标硬件描述树；

将目标硬件描述树中各子系统实例的基础寄存器地址下发至各子系统测试单元，以根据各基础寄存器地址获取对应的子系统实例，实现待测芯片在目标阶段的测试。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标阶段包括：芯片设计阶段以及芯片测试阶段。

8.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：

描述树获取模块，用于当待测芯片在目标阶段进行软件程序运行时，获取待测芯片对应的标准硬件描述树；

描述树处理模块，用于将标准硬件描述树读入软件程序，利用软件程序解析标准硬件描述树，生成运行时硬件描述树；

芯片测试模块，用于基于运行时硬件描述树中的基础寄存器地址对待测芯片进行目标阶段的测试。

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1-7中任一项所述的芯片测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的芯片测试方法。